JTAG接口中,有个SWO引脚,一直没有在意,也没有去研究过是干嘛用的.直到发现ST-LINK V2-1上也有个SWO引脚,于是去研究学习它的作用,用起来相比UART方得便多. 本文内容已经整理成PDF,提供给大家下载: https://pan.baidu.com/s/1EhJulPbD6Cp5OohzpQY0Fg&shfl=sharepset   提取码:h43c 1  写在前面 SWO:Serial Wire Output,串行线输出 SWV:Serial Wire Viewer,串行线查看

STM32串口通信中使用printf发送数据配置方法(开发环境 Keil RVMDK) http://home.eeworld.com.cn/my/space-uid-338727-blogid-47176.html 在STM32串口通信程序中使用printf发送数据,非常的方便.可在刚开始使用的时候总是遇到问题,常见的是硬件访真时无法进入main主函数,其实只要简单的配置一下就可以了.   下面就说一下使用printf需要做哪些配置.   有两种配置方法:   一.对工程属性进行配置,详细步骤

ARM JTAG 调试原理 JTAG的接口是一种特殊的4/5个接脚接口连到芯片上 ,所以在电路版上的很多芯片可以将他们的JTAG接脚 通过Daisy Chain的方式连在一起,并且Probe只需连接到一个“JTAG端口”就可以访问一块印刷电路板上的所有IC. 这些连接引脚是: TDI(测试数据输入) TDO(测试数据输出) TCK(测试时钟) TMS(测试模式选择) TRST(测试复位)可选. 因为只有一条数据线,通信协议有必要像其他串行设备接口,如SPI一样为串列传输. 时钟由TCK引脚输入.

JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的简称,JTAG的两个标准IEEE 1149.1(2001)和IEEE 1149.7(2009). JTAG中主要包含两部分内容:TAP(TEST ACCESS PORT)和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE. 边界扫描的基本思想是:在靠近芯片输入输出引脚处,增加一个移位寄存器单元,称为边界扫描寄存器(Boundary-Scan Register cell) 在芯片处在debug模式下时,这些边界扫描寄存器可以将芯片和外围

对于一个新手来说,一切都不容易. 而从头学起也是一件非常美好的事. 观看     调试ARM,要遵循ARM的调试接口协议,JTAG就是其中的一种.当仿真时,IAR.KEIL.ADS等都有一个公共的调试接口,RDI就是其中的一种,那么我们如何完成RDI-->ARM调试协议(JTAG)的转换呢?有以下两种做法: 1.在电脑上写一个服务程序,把IAR.KEIL和ADS中的RDI命令解析成相关的JTAG协议,然后通后一个物理转换接口(注意,这个转换只是电气 物理层上的转换,就像RS232那样的作用)发送

调试ARM,要遵循ARM的调试接口协议,JTAG就是其中的一种.当仿真时,IAR.KEIL.ADS等都有一个公共的调试接口,RDI就是其中的一种,那么我们如何完成RDI-->ARM调试协议(JTAG)的转换呢?有以下两种做法: 1.在电脑上写一个服务程序,把IAR.KEIL和ADS中的RDI命令解析成相关的JTAG协议,然后通后一个物理转换接口(注意,这个转换只是电气物理层上的转换,就像RS232那样的作用)发送你的的目标板.H-JTAG就是这样的.H-JTAG的硬件就仅是一个物理电平的转换接口

最近在MCU on Eclipse网站上看到Erich Styger所写的一篇有关通过SWD的跟踪接口SWO获取ARM Cortex-M相关信息的文章,文章结构明晰,讲解透彻,本人深受启发,特意将其翻译过来供各位同仁参考.当然限于个人水平,有不当之处恳请指正.原文网址:https://mcuoneclipse.com/2016/10/17/tutorial-using-single-wire-output-swo-with-arm-cortex-m-and-eclipse/ 作为一个标准过程,我

 参考博客:http://blog.csdn.net/qq_26093511/article/details/59484249 (1)如果用jtag模式下载的话需要接线:          jlink的第1脚(VDD)                 第3脚(TRST对应stm32的PB4)                 第5脚(TDI对应stm32的PA15)                 第7脚(TMS/SWDIO对应stm32的PA13)                 第9脚(TCK

用SWD调试接口测量代码运行时间 关于时间测量的种种问题 在嵌入式中,我们经常需要测量某段代码的执行时间或测量事件触发的时间,常规的思路是: 1:在测量起始点,反转电平2:在测量结束点,再次反转电平 然后通过示波器或者逻辑分析仪来测量反转间隔,也就是代码时间 这种方法,在测量两个或多个时间信号同步的时候,非常有用,实际上,这也是唯一的方法. 但是如果在测量中,其它代码也会控制这个管脚电平或者周期性动作,这时便需要在<动作1>之前增加前导码,从而便于在繁杂的波形中,一眼识别出需要特定的波形 同时

One of the basic needs of the embedded software development through the terminal to output debugging information, generally two ways to achieve: one is the COM port on the UART and PC using a serial cable connecting plate through the PC HyperTerminal

Open JTAG Project is an open source hardware and software for a high speed USB JTAG tool. In this site, you can find and download all necesary files to make your JTAG device. The electric schematics, the PCB design including Gerber files, the VHDL pr

调试ARM,要遵循ARM的调试接口协议,JTAG就是其中的一种.当仿真时,IAR.KEIL.ADS等都有一个公共的调试接口,RDI就是其中的一种,那么我们如何完成RDI-->ARM调试协议(JTAG)的转换呢?有以下两种做法: 本文引用地址: http://www.21ic.com/app/mcu/201304/178185.htm 1.在电脑上写一个服务程序,把IAR.KEIL和ADS中的RDI命令解析成相关的JTAG协议,然后通后一个物理转换接口(注意,这个转换只是电气 物理层上的转换,就像

JTAG协议制定了一种边界扫描的规范,边界扫描架构提供了有效的测试布局紧凑的PCB板上元件的能力.边界扫描可以在不使用物理测试探针的情况下测试引脚连接,并在器件正常工作的过程中捕获运行数据. SoC FPGA作为在同一芯片上同时集成了FPGA和HPS的芯片,其JTAG下载和调试电路相较于单独的FPGA或ARM处理器都有一些差异,但是同时两者又有紧密的联系.AC501-SoC开发板上的JTAG链同时连接了FPGA和HPS.使用时,仅需一个JTAG链路,就能同时调试FPGA和HPS.FPGA和HPS

http://www.dzsc.com/data/html/2008-12-23/75397.html JTAG测试信号由下面5个信号组成. TRST:测试复位输入信号,测试接口初始化 TCK:测试时钟,在TCK时钟的同步作用下,通过TDI和TDO引脚串行移入/移出数据或指令:同时,也为TAP(测试访问端口)控制器的状态机提供时钟. TMS:测试模式选择信号,控制测试接口状态机的操作. TDI:测试数据输入线,其串行输入数据至边界扫描寄存器或指令寄存器(由TAP控制器的当前状态及己保存在指令寄存

http://infocenter.arm.com/help/index.jsp?topic=/com.arm.doc.dui0499b/BEHEIHCE.html he ARM JTAG 20 connector is a 20-way 2.54mm pitch connector. It can be used in either standard JTAG (IEEE 1149.1) mode or Serial Wire Debug (SWD) mode. The following f

转自: http://www.it165.net/embed/html/201308/2332.html 用过stm32的人都知道stm32有两种常用下载程序的方法,用串口和jlink.串口下载方法和51差不多不多说,用jlink下载时接口引脚太多导致接口很大,很占pcb的面积,在此我就针对这个问题清晰的讲述下jlink下载程序时jtag接口的简化方法!希望对大家有用.!   我实验的是jlink v8和stm32f103rbt6! 如果用jtag模式下载的话,需要接:jlink的第1脚(VDD

如果不能下载,可能原因也许是电量不足了... 在电力不足的时候,仿真也不能进行... ///////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////

转载:http://www.stmcu.org.cn/module/forum/forum.php?mod=viewthread&tid=616081&extra=page%3D&page=1 2018-06-30重要更新,附件换成了源代码.2018-08-29附件更新,与github相同. 同时上传github:https://github.com/RadioOperator/STM32F103C8T6_CMSIS-DAP_SWO ------------------------

我是 雪天鱼,一名FPGA爱好者,研究方向是FPGA架构探索和SOC设计. 关注公众号[集成电路设计教程],拉你进"IC设计交流群". 注:转载请注明出处 一.Test logic architecture 首先此测试逻辑架构必须包含的组件有 一个 TAP 控制器 一个指令寄存器 IR 一组测试数据寄存器 DR 测试逻辑架构示意图如图1所示 图1 片上测试逻辑概念图 下面简单介绍下此示意图: (1)TAP 控制器接收TCK,TMS和TRST(可选)信号,产生 IR.DR和其他组件所需的

if __name__== "__main__" 的意思(作用)python代码复用 转自:大步's Blog  http://www.dabu.info/if-__-name__-__main__-mean-function-python-code-reuse.html 有人在学习python脚本时会发现有的脚本下面有几行代码;   1 2 if __name__== "__main__": main() 不明白其中的意思,其实这就是方便我们代码复用的,我们可以在