在进行STM32F中AD采样的学习中,我们知道AD采样的方法有多种,按照逻辑程序处理有三种方式,一种是查询模式,一种是中断处理模式,一种是DMA模式.三种方法按照处理复杂方法DMA模式处理模式效率最高,其次是中断处理模式,最差是查询模式,相信很多学者在学习AD采样程序时,很多例程采用DMA模式,在这里我针对三种程序进行分别分析. 1.AD采样查询模式 在AD采样查询模式中,我们需要注意的是IO口的初始化配置,这里我采用PA2作为模拟采集的引脚(AIN2)和串口3作为打印输出. 具体如下:建立一个

STM32的ADC采样时间与其ADC的时钟频率密不可分. 例:STM32F103系列的ADC的时钟是在APB2(最大72MHZ)上.我们可以对其分频: RCC_PCLK2_Div2: ADC clock = PCLK2/2   //72/2=36MHz RCC_PCLK2_Div4: ADC clock = PCLK2/4   //72M/4=18MHz RCC_PCLK2_Div6: ADC clock = PCLK2/6  //72M/6=12MHz RCC_PCLK2_Div8: ADC

源:64脚和小于64脚的STM32进行AD时注意,参照电源处理方法 请注意,ADC_IN17上没有内部基准,将其说成基准电压概念不对. 所以横线以下的理解不对,如果将其做为参考,则其电压假定按1.2V计算,实际测量的数字量是1271~1275,按此推算: 1.2/1275=VDD/4095, 所以VDD=3.85V,很明显供电压换算出来的值与实际3.3V不符,所以不有用其做为参考. 实际上,可以通用ADC_IN1采集某参考源的电压,其它通道按此进行比例换算. ------------------

http://blog.csdn.net/varding/article/details/17559399 http://www.51hei.com/stm32/3842.html https://www.amobbs.com/forum.php?_dsign=7ed5b68e&mod=viewthread&tid=4132217 STM32 如何用外部脉冲触发DMA,开始ADC采样? http://blog.csdn.net/gtkknd/article/details/40155287

实现 AD 采样,使用 LCD1602 显示 AD 数值 写在前面 单片机内集成的A/D转换,一般都有相应的特殊功能寄存器来设置A/D的使能标志,参考电压,转换频率,通道选择,A/D输入口的属性(模拟量输入还是普通的I/O口),启动,停止控制等.有了这些寄存器,使得我们控制单片机的模拟量采集变得非常方便. A/D转换的基本原理是:将参考电平按最大的转换值量化,再利用输入模拟电平与参考电平的比例来求得输入电平的测量值(V测=V参*(AD量化值/AD转换的最大值)).有些MCU A/D转换的参考电平

实验采用带模拟量,分辨率为1-5V,量程为0--101kpa的真空表 数据采集模块采用DAM-8021,  16位模块 算法描述如下: 真空表读数范围: 0到-101kpa 模拟量输出: 1-5V 一次AD数据采集结果为(由串口助手取得):  >+03.921-00.000 此时真空表读数:  74.2 则系数A=(3.921-1)/74.2=0.0393 真空表模拟量输出修正系数:  是指真空表模拟量输出的偏差. 其取得方法为,  将真空去掉,让真空表读数为零, 读一次AD采样的结果, 例如其

1.STM32的AD变化,任务组可以转换成两组:规则组和注射组.随机序列按随机顺序变换多种渠道构成了一组转换.例如.能够完成转换中,例如按照以下顺序:通道3.通道8.通道2.通道2.通道0.通道2.通道2.通道15.在执行规则通道组扫描转换.换.能够模糊的将注入组的转换理解为AD转换的中断一样,规则通道组的转换是普通转换,然而注入组的转换条件满足的情况下,注入组的转换会打断规则组的转换.假设规则转换已经在执行.为了在注入转换后确保同步,全部的ADC(主和从)的规则转换被停止,并在注入转换结束时同

文章目录 1 引言 2 延迟类型及典型时间 3 延迟源详细分析 3.1PWM死区时间插入 3.2 光耦延迟和预驱动器延迟 3.3晶体管开关延迟 3.4其他延迟 4 结语 在电机驱动的FOC控制开发过程中,您是否遇到过电机噪声过大.效率偏低甚至无法运转的情况?这一切有可能源于相电流的采样异常,从而导致FOC算法中无法重建正确的三相电流!小编这里给大家分析影响电流采样的一个因素--延迟源! 1 引言 在双电阻采样的电机驱动FOC控制中,采样点设置为驱动桥下管打开的中间时刻.注意,这里是驱动桥下管打开

在使用STM32的ADC进行检测电压时必须回涉及到电压值的计算,为了更高效率的获取电压,现在有以下三种方法: 你得到的结果是你当前AD引脚上的电压值相对于3.3V和4096转换成的数字.假如你得到的AD结果是ADC_DR这个变量,他们存在以下关系: ADC_DR/当前电压值 = 4096/3300毫伏如果你反过程想得到当前电压值,可以如下计算:unsigned long Voltage;Voltage = ADC_DR; //---假设你得到的AD结果存放到ADC_DR这个变量中;Voltage

Stm32的ADC有DMA功能这都毋庸置疑,也是我们用的最多的!然而,如果我们要对一个信号(比如脉搏信号)进行定时采样(也就是隔一段时间,比如说2ms),有三种方法: 1.使用定时器中断每隔一定时间进行ADC转换,这样每次都必须读ADC的数据寄存器,非常浪费时间! 2.把ADC设置成连续转换模式,同时对应的DMA通道开启循环模式,这样ADC就一直在进行数据采集然后通过DMA把数据搬运至内存.但是这样做的话还得加一个定时中断,用来定时读取内存中的数据! 3.使用ADC的定时器触发ADC转换的功能,

iADC_read(, &u16NTC_1_Sample_Val_ARR[]); == ui8FirstSampleFlag) { ; i<; i++) { u16NTC_1_Sample_Val_ARR[i] = u16NTC_1_Sample_Val_ARR[]; } ui8FirstSampleFlag = ; } u16NTC_1_Sample_Val_ARR[] = (uint16_t) ((] + u16NTC_1_Sample_Val_ARR[] + u16NTC_1_Samp

在做一款消费电子产品时,需要采集电池电压(3.3V-4.2V),同时在休眠的时候希望尽量减小待机电流.电池电压采集电路采用两个1%的300K电阻进行分压,由该电路引起的待机电路为4.2/(300+300)mA=7uA.此时比较合理(整机的待机电流要求30uA以内). 初始设计电路如下: 在编程采集数据时发现测试电压与实际电压有偏差,测试值总比实际值偏小一点.在软件上做补偿,把值修正了. 但是换一个板子测试的时候发现测试的电压又不准了,此时知道通过软件补偿这种方法行不通.那么只能从硬件找原因. 查

频率采样方法通常采样定时器的计数方法,在stm32中,输入捕捉模式,PWM输入模式,都是可以测试外部信号频率采样的.1.输入捕捉模式需要频繁的进中断,这个方式不太好的.如果一定要用,那么就软件上处理一下,定期采集,而不是一直采集2.另一种是使用dma的方式.这个可以100ms打开一次dma,读取一次数据,3.还有一种方式是把外部引脚配置成外部中断,结合定时器中断,计数上升沿的数据,比如100ms定时时间,读取外部中断的上升沿数量.最后结合软件,合理采样即可 另外,外部中断,也是可以用读取io电平

如果本文帮到了你,帮忙点个赞: 如果本文帮到了你,帮忙点个赞: 如果本文帮到了你,帮忙点个赞: 创作不易 谢谢支持 文章目录 1 电流采样的作用 2 硬件架构 3 采样关键 4 采样方案 5 三电阻采样 5.1 三电阻采样点 5.2 双电阻采样 5.3 双电阻采样点 5.4 单电阻采样 5.4.1 Sa Sb Sc:100 5.4.2 Sa Sb Sc:110 5.4.3 SVPWM的开关状态 5.4.4 ST方案 6 总结 7 附录 1 电流采样的作用 在FOC算法中,电流采样在反馈环节是相当

说明:来源http://bbs.csdn.net/topics/390899032论坛讨论 一个100HZ的正弦波,我用300HZ的采样率去采样,那么根据香农定律是不是一秒钟就采集到300个点,因为这个波形是100HZ,所以这一秒钟内就有一百个波形经过,那么300个点平均到每个波形上就只有3个点了,也就是一个波形上采集3个点, 采样率一般是Sps为单位,而不是用Hz, 例如300Sps,即300 Samples Per  Second.100Hz的正弦,用300Sps的采样率,则平均每个正弦周期

用122.88k时钟采样153.6k的信号

adc采集到的信号对低频有一定的衰减.因为要确定衰减的程度.通过da输出到示波器上观察. 数据如下: 输入 输出(enable) 输出(disable) 1v(20hz) 1v 0.88v 1v(10hz) 0.76v 0.76v 1v(8hz) 0.6v 0.68v 1v(5hz) 0.4v 0.5v 1v(3hz) 0.25v 0.35v 1v(2hz) 0.15v 0.25v 1v(1hz) 0.05v 0.12v 在8hz以下还是有比较到的衰减.这是使用示波器观察还是经过dac的于是想直

#include<reg52.h> sfr ADC_CONTR = 0xBC; //ADC control register sfr ADC_RES = 0xBD; //ADC 8-bit result register sfr P1ASF = 0x9D; //P1 secondary function control register /* Define ADC operation const for ADC_CONTER */ #define ADC_POWER 0x80 #define

Cortex-M3是新兴起来的一种ARM7的核,而ARM7TDMI是一种传统的经典的ARM内核.我们就抛开这一切,来比较一下两则的异同. 我们就在以下平台上比较吧: STMicoelectronics:STM32F101 36M极限频率,6到16K SRAM,32到128K flash , 1*12位ADC , 80个快速IO口. NXP:LPC21303 ,.,70MHz, 8K SRAM, 2 UART , 2 I2C , 8*10位ADC ,32k FLASH. 而且价格上STM32要比N

源:使用STM8SF103 ADC采样电压 硬件环境: STM8SF103 TSSOP20封装 因为项目需要用到AD采样电池电压,于是便开始了使用STM8S ADC进行采样,也就有了下文. 手册上对STM8S ADC的管脚描述如下: STM8SF103这款芯片是TSSOP 20管脚封装,如下: STM8SF103这款芯片能用的是5个AD采样通道,分别是AIN2~AIN6.其实是还有一个通道AIN7,但手册并没有对其描述. 这里还有一个很奇怪的地方,从ST资料中找到一个与上面的表数据不同的地方,如