DFT设计绪论
DFT设计的主要目的是为了将defect-free的芯片交给客户。
产品质量,通常使用Parts Per million(PPM)来衡量。
但是随着IC从SSI到VLSI的发展,在test上花销的时间越来越多,test的quality却很难提高,这使得DFT的engineer不断的发展着DFT的技术。
DFT engineer面对的第一个问题是设计内部的状态的可测试性问题。在1970-1980年间,提出了ad hoc等可测试性设计的方法。
可以提高一个design的可测试性,但是对于sequential的电路还是很难进行ATPG的产生。
对于combinational的电路,有很多ATPG的算法可以用来进行test pattern的生成,但是对于sequential的电路却很难。
后来带有直接外部访问的storage elements的提出,才解决了sequential的可测性与可观性。这样的cell叫做scan cells。
scan design是目前为止,使用最多的structure的DFT方法,通过将多个storage element连接为多个shift register来实现。
一个design中,所有的storage element都做了scan inserting,这样的design叫做full-scan design;
一个design中,大多数的(超过98%)的storage element做了scan inserting,这样的design叫做almost full-scan design。
一些不用SDFF替代的cell,可能是不想要在scan mode下被改变的register,本身就是shift register的寄存器(包括sync FF)
timing非常critical的path等。
一个design中,一些storage element做了scan inserting,并且使用了sequential的ATPG,这样的design叫做partial-scan design。
其中的storage element主要为了break sequential feedback来选择,从90年代起,随着沈亚微米技术的发展,full_scan逐渐代替
partial_scan成为主流。
每一个DFF的D端值,可以表示为某些DFF的Q值和组合逻辑的函数来得到,Di=f(Qx, Input)。在SE为1的情况下,所有的Qx都有了确定的值。
如果整个chip的input pad也是固定值,那每一个DFF的D端值一定是可以计算出来的。
一些analog和ram类的输出信号,着这种会进行bypass处理,保证Di是一个确定值。如果没有相应的mux,那TMAX计算出的Di为不确定值。
相应DFF在移位出scan chain的时候,对应的cycle应该进行mask处理。
这些hardblock如果没有bypass处理,会影响test coverage。
为了提高fault coverage,一些scan design rules必须被遵循。除了scan_design外,还有Built_in self_test(BIST)和test compression
也得到了很广泛的应用。
而近几年,DFT的测试开始从netlist转向RTL level来减小test development的时间,以及testable的code。
scan register的替换,带来的area increased,大约在15%
compression logic带来的area increased,大约在1%
bist logic带来的area increased,大约在2%--5%
defect的model类型有:
Stuck At
Transition
Path Delay
Bridge Test
IDDQ
针对芯片的三大部分,我们DFT工程师手里有三大法宝
BSCAN技术-- 测试IO pad,主要实现工具是Mentor-BSDArchit,sysnopsy-BSD Compiler
MBIST技术-- 测试mem, 主要实现工具是Mentor的MBISTArchitect 和 Tessent mbist
ATPG 技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的 TestKompress 和synopsys TetraMAX;
插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler/cadence的RTL Compiler
Mentor的工具更新为Tessent平台,包括工具:Tessent FastScan Tessent MemoryBIST
Tessent testKompress Tessent LogicBIST
Tessent Scan
Tessent Diagnosis
Insert scan:
1. 虽然教科书会介绍很多种DFT DRC,但是在实际设计中95%的工作在修复scan_clk和scan_reset的DRC violation
2. 修复clk/reset violation 的方法主要是用DC插入mux ,目的是使在scan_mode下clk和reset被芯片scan_clk和scan_reset pad控制。
同时,scan_clk和scan_reset pad会用于ATE给芯片施加激励
3. 插入scan时,DFT Compiler必须修复的DRC violations 类别为D1/D2/D3/D9
4. 做全片级的DFT设计时,需要在scan_in,scan_out,scan_reset,scan_clk的IO pad 的OEN/IE/REN端插入mux,控制pad的输入和输出方向
Atpg patterns产生和仿真
1. 所有的模拟模块,例如PLL,POR等,一般设置为black-box,无法用ATPG测试其内部
2. 芯片clk,power,reset的控制寄存器,一般不会放到scan_chain上,以免在测试时由于寄存器的动作,改变芯片工作状态
3. 考虑power domain的开关,一般必须保证在scan测试时,所有power domain都打开,每个数字标准单元都能测试到。
4. 如果有模拟的IO pad,一般必须在产生pattern时mask掉,因为他们不是数字的,ATPG工具无法控制它们
5. 业界一般使用DC插入OCC (on chip clocking)模块,实现at-speed scan测试电路
MBIST工具
目前使用较多的是MBISTArchi,但是Tessent MBIST以后会成为主流。原因是Mentor公司2013年已经宣布MBISTArchi将不再提供技术支持,
而且Tessent MBIST技术更为先进。
1. 所有的MBIST设计应该考虑diagnose,加入diagnose电路,方便诊断mem故障,这会在芯片量产时大大提高成品率。
2. 由于ARM与Mentor有合作,Coretex-A9以上的ARM核具有share-bus接口,可以很好支持Tessent Mbist,
就能够实现ARM内核的mem的高速测试和访问,也提高了ARM CPU的性能。
3. Tessent MBIST会使用JTAP,只占用TCK/TMS/TDO/TDI/TRST五个pad,比MBISTArich使用更少的pad资源
BSCAN 工具
1. 所有的模拟IO,一般无法用bscan来测试,不要加上bscan_cells
2. 所有需要测试的数字pad的OEN/IE/REN 在bscan_mode下,需要插mux来控制
3. 所有需要测试的数字pad的PU/PD 在bscan_mode下,一般需要插mux来控制,保证在bscan_mode下,
PU和PD=0,才能使bscan HIGHZ测试仿真通过
4. 所有JTAG的强制要求指令如IDCODE,EXIST必须在bscan电路中实现,特别是BYPASS
chip中的test mode可以分为analog(BIST),function,BIST,SCAN,IO
Yield:良率 (number of acceptable parts)/(total number of parts fabricated)
DFT设计绪论的更多相关文章
- Power Gating的设计(模块二)
针对lower power的验证,由cpf/upf来建模,包括: 1)power gating的功能模型(在power gate之后将output force为x) 2)isolation功能模型: ...
- Power Gating的设计(模块)
Switching Fabric的设计: 三种架构:P沟道的switch vdd(header switch),N沟道的switch vss(footer switch),两个switch. 但是如果 ...
- Power Gating的设计(概述)
Leakage power随着CMOS电路工艺进程,功耗越来越大. Power Domain的开关一般通过硬件中的timer和系统层次的功耗管理软件来进行控制,需要在一下几方面做trade-off: ...
- DFT 问答 I
Q: Boundary Scan是什么?应用场景是什么?实现的方法是什么?挑战是什么? A: Boundary Scan就是边界扫描,是由Joint Test action Group起草的规范,最初 ...
- test generation和MBIST
The problem of test generation Random test generation Deterministic algorithm for test generation fo ...
- (转)Synopsys工具简介
DC Ultra--Design Compiler的最高版本 在Synopsys软件中完整的综合方案的核心是DC UltraTM,对所有设计而言它也是最好级别的综合平台.DC Ultra添加了全面的数 ...
- IC设计基础
一 前言 这一周连续两场线下面试,紧接着又是微信视频面试,从连续三天的面试中,收获颇丰! 存在的问题: 一是对项目细节模糊: 二是IC基础知识薄弱: 具体表现是,在面试过程中,如被问到DDR3和千兆以 ...
- IC 设计中DFT的Boundary Scan功能
在很大规模的IC设计中,往往会有一些各种各样的bug出现,不论是在前期design的过程,还是在post silicon流片回来chip的flaw,都会导致chip的功能的失败,时钟频率无法达到期望频 ...
- DFT,可测试性设计--概念理解
工程会接触DFT.需要了解DFT知识,但不需要深入. 三种基本的测试(概念来自参考文档): 1. 边界扫描测试:Boundary Scan Test: 测试目标是IO-PAD,利用JTAG接口互连以方 ...
随机推荐
- C/C++ 获取汉字拼音首字母
#include <stdint.h> #include <stdio.h> #include <ctype.h> #include <string.h> ...
- java 发送http json请求
public void getRemoteId(HttpServletRequest request,Model model){ String name = request.getParameter( ...
- css模仿表格 居中
<div class="service_box"><div class="service_list"> <span class=& ...
- ArcGIS Engine开发之旅10--空间参考及坐标转换
原文:ArcGIS Engine开发之旅10--空间参考及坐标转换 空间参考(Spatial Reference)是 GIS 数据的骨骼框架,能够将我们的数据定位到相应的位置,为地图中的每一点提供准确 ...
- FragmentActivity和Activity的区别
[转载] 直说总结了: 1.fragmentactivity 继承自activity,用来解决android3.0 之前没有fragment的api,所以在使用的时候需要导入support包,同时继承 ...
- SET Statements for SQLServer
SET SHOWPLAN_ALL { ON | OFF } It will not execute the TSQL statements. It cannot be specified inside ...
- Mysqldump 参数详解(全)
Mysqldump 参数详解(全) http://www.open-open.com/lib/view/open1358172843762.html mysqldump -S /tmp/mysql33 ...
- 获取dom元素的宽度和高度
一.获取css的大小 1.第一种通过内联样式 var box = document.getElementById('box'); var w = box.style.width; var h = bo ...
- 多大开始玩EV3
机器人EV3还是初中生才能玩的溜 耐撕爸爸推荐年龄:初中及以上 推荐理由:无需使用计算机就可进行编程,培养孩子的编程.机械.电子.物理等综合能力. 在欧美等国家,乐高机器人融入教学已成为一种普遍现象, ...
- 最近在研究电台类app,分享2个源码大家一起讨论
好像去年有一阵,电台类的app特别火爆,喜马拉雅和蜻蜓FM互相还撕逼.听老罗,听好好说话,都得在电台app里,所以我想研究研究这些app.我没那么多资源,只好从app的开发架构方面去研究. 我看api ...