众所周知,芯片主要由三大部分构成. 芯片示例-可见下图 1.与电路板和其他芯片的接口-IO pad 2.存放程序的空间-RAM和ROM 3.搭建逻辑电路的基本组件 –标准逻辑单元 DFT工程师所有的工作的目的只有一个-设计和插入数字电路,测试整个芯片的制造质量,筛选出没有制造缺陷的芯片. 针对芯片的三大部分,DFT工程师手里有三大法宝 BSCAN技术-- 测试IO PAD,主要实现工具是Mentor-BSDArchit,sysnopsy-BSD Compiler MBIST技术-- 测试MEM,…

1. Hibernate3 提供了属性的延迟加载功能? 当Hibernate在查询数据的时候,数据并没有存在与内存中,当程序真正对数据的操作时,对象才存在与内存中,就实现了延迟加载,他节省了服务器的内存开销,从而提高了服务器的性能. 2.Hibernate中怎样实现类之间的关系?(如:一对多.多对多的关系) 类与类之间的关系主要体现在表与表之间的关系进行操作,它们都市对对象进行操作,我们程序中把所有的表与类都映射在一起,它们通过配置文件中的many-to-one.one-to-many.many…

(一)HOG特征 1.HOG特征: 方向梯度直方图(Histogram of Oriented Gradient, HOG)特征是一种在计算机视觉和图像处理中用来进行物体检测的特征描述子.它通过计算和统计图像局部区域的梯度方向直方图来构成特征.Hog特征结合 SVM分类器已经被广泛应用于图像识别中,尤其在行人检测中获得了极大的成功.需要提醒的是,HOG+SVM进行行人检测的方法是法国研究人员Dalal 在2005的CVPR上提出的,而如今虽然有很多行人检测算法不断提出,但基本都是以HOG+SVM…

(一)HOG特征 1.HOG特征: 方向梯度直方图(Histogram of Oriented Gradient, HOG)特征是一种在计算机视觉和图像处理中用来进行物体检测的特征描述子.它通过计算和统计图像局部区域的梯度方向直方图来构成特征.Hog特征结合 SVM分类器已经被广泛应用于图像识别中,尤其在行人检测中获得了极大的成功.需要提醒的是,HOG+SVM进行行人检测的方法是法国研究人员Dalal 在2005的CVPR上提出的,而如今虽然有很多行人检测算法不断提出,但基本都是以HOG+SVM…

(一)HOG特征 1.HOG特征: 方向梯度直方图(Histogram of Oriented Gradient, HOG)特征是一种在计算机视觉和图像处理中用来进行物体检测的特征描述子.它通过计算和统计图像局部区域的梯度方向直方图来构成特征.Hog特征结合SVM分类器已经被广泛应用于图像识别中,尤其在行人检测中获得了极大的成功.需要提醒的是,HOG+SVM进行行人检测的方法是法国研究人员Dalal在2005的CVPR上提出的,而如今虽然有很多行人检测算法不断提出,但基本都是以HOG+SVM的思…

单个学习器要么容易欠拟合要么容易过拟合,为了获得泛化性能优良的学习器,可以训练多个个体学习器,通过一定的结合策略,最终形成一个强学习器.这种集成多个个体学习器的方法称为集成学习(ensemble learning). 集成学习通过组合多种模型来改善机器学习的结果,与单一的模型相比,这种方法允许产生更好的预测性能. 集成学习属于元算法,即结合数个“好而不同”的机器学习技术,形成一个预测模型,以此来降方差(bagging),减偏差(boosting),提升预测准确性(stacking). 1. 集成…

DFT设计的主要目的是为了将defect-free的芯片交给客户. 产品质量,通常使用Parts Per million(PPM)来衡量. 但是随着IC从SSI到VLSI的发展,在test上花销的时间越来越多,test的quality却很难提高,这使得DFT的engineer不断的发展着DFT的技术. DFT engineer面对的第一个问题是设计内部的状态的可测试性问题.在1970-1980年间,提出了ad hoc等可测试性设计的方法. 可以提高一个design的可测试性,但是对于sequen…

工程会接触DFT.需要了解DFT知识,但不需要深入. 三种基本的测试(概念来自参考文档): 1. 边界扫描测试:Boundary Scan Test: 测试目标是IO-PAD,利用JTAG接口互连以方便测试.(jtag接口,实现不同芯片之间的互连.这样可以形成整个系统的可测试性设计) 2. 内建自测试BIST:(模拟IP的关键功能,可以开发BIST设计.一般情况,BIST造成系统复杂度大大增加.memory IP一般自带BIST,简称MBIST) 3. 扫描测试(ATPG)Scan path:…

相信很多工程师,特别是刚入行或准备入行的兄弟们或多或少听过测试相关的东西.如果你想做DFT工程师的,测试工程师的,而对于设计/验证工程师们如果能了解下STIL文件的原理,在和DFT/测试工程师聊技术聊测试pattern的时候就不会一脸懵逼了. 言归正传.STIL就是StandardTestInterfaceLanguage(标准测试接口语言),IEEE1450.x标准就是专门说的它,语法上很有内涵的感觉.但很明显这就是用来描述测试pattern用的语言(Synoposys会采用STIL来描述扫描…

Q: Boundary Scan是什么?应用场景是什么?实现的方法是什么?挑战是什么? A: Boundary Scan就是边界扫描,是由Joint Test action Group起草的规范,最初是为了解决板级芯片之间的互联测试的问题,实现方法就是在芯片内部的每个I/O上面加上一个Boundary Scan cell 用于控制和观测每个I/O的状态,然后把每个I/O的bscell串连起来交由TAP控制器控制.TAP控制器按照 IEEE1149.1 规范通过5个I/O 串行与外界通讯.虽然Bo…