在scan stitch之后,scan synthesis就已经完成, Scan extraction主要用来从scan design中extracing所有的instance,来保证scan chain的完整性. 并保证所有的design change都整合到scan design. Scan Verificaiton 1)在shift operate中的hold time violation,如果两个scan cell是同时钟,需要由CTS来保证clock skew有一个 minimum的值…

一个典型的scan实现的flow: clock mux和一些rst,在Scan中都被bypass掉,是不能测到的.所以DFT的test coverage一般就在97%或98%. scan design rule checking and repair: 可以在presynthesis RTL design或者postsynthesis gate-level design上进行, 经过scan repair之后的design,称为testable design. scan synthsis是将一个…

Atitit vod click event design flow  视频点播系统点击事件文档 重构规划1 Click cate1 Click  mov4 重构规划 事件注册,与事件分发管理器分开 Click cate Main.js line730 // -------------------------------------------- // UI interaction // -------------------------------------------- $(documen…

为了更好的设计一个scan design,一些scan design的rule必须遵循. 1)tristate bus在shift mode下必须保持bus contention: 2)bidirectional IO port在shift mode下,必须force在input或者output: 3)gated clock在shift mode下,必须保证enable: 4)derived clock在shift和capture mode下,最好保持bypass: 5)combinationa…

FPGA engineering process usually involves the following stages: Architecture design. This stage involves analysis of the project requirements, problem decomposition and functional simulation (if applicable). The output of this stage is a document whi…

scan cell有两种不同的input: 1)data input:由电路的combinational logic驱动: 2)scan input:由另一个scan cell驱动,从而形成scan chain: 在normal/capture mode下,data input来驱动output: 在shift mode下,scan input来驱动output: 几种scan_cell:muxed-D scan,clockd-scan,level-sensitive scan design(L…

Testability用来表征一个manufactured design的quality. 将testability放在ASIC前端来做,成为DFT(Design For Test),用可控(controllable)可观(observable)来表征. DFT的实现的两个大方向:ad hoc和structure. 1)ad hoc:利用良好的设计习惯,来保证testability.减少无关逻辑,异步逻辑,增加可控可查点. 2)structured:更加系统,自动的方法.包括三个方法: scan…

https://jobs.amd.com/job/Beijing-Physical-Design-Engineer-Beij/603603700/?locale=en_US What you do at AMD changes everything At AMD, we push the boundaries of what is possible.  We believe in changing the world for the better by driving innovation in…

用户在调试内嵌可综合内核的 CPU 如 ARM7TDMI-S 时,需要通过打开仿真器的自适应时钟功能. 此时,ARM仿真器根据 RTCK 时钟信号的频率,产生可用于 CPU 内核当前时钟主频的最快的 TCK 时钟. 即 ARM 内核的时钟主频变化,引起 RTCK 变化, 仿真器根据 RTCK 的变化,产生合适的最快的 TCK 时钟. 如果没有有效的 RTCK 信号,用户不能使用自适应时钟功能.这种情况下,用户可以设置 TCK 为比较低的频率. 当用户确认 CPU 运行在比较高的频率的情况下,可以…

1.Boundary scan Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描.Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的初衷是为了解决在PCB上各个大规模集成电路间的信号互联测试需求,所以往往也被叫做JTAG(JTAG更是指由IEEE1149.1标准规定的4线接口极其控制逻辑如TAP.TDR等).现在 JTAG / BScan 已被绝大多数芯片设计公司和系统厂商所采用,作为一种芯片 IO PAD connectivit…