JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的简称,JTAG的两个标准IEEE 1149.1(2001)和IEEE 1149.7(2009). JTAG中主要包含两部分内容:TAP(TEST ACCESS PORT)和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE. 边界扫描的基本思想是:在靠近芯片输入输出引脚处,增加一个移位寄存器单元,称为边界扫描寄存器(Boundary-Scan Register cell) 在芯片处在debug模式下时,这些边界扫描寄存器可以将芯片和外围…