基本常识: (1)Hot switch好的程序应避免使用热切换(这里热的含义类似于热插拔的“热“),热切换是指带点操作,有电流的情况下断开开关或闭合开关的瞬间,有电流通过,这会减少开关的寿命甚至直接损坏开关. (2)Latch-up 闩锁效应,由于在信号,电源或地等管脚上施加了错误的电压,在CMOS器件内部引起了大电流,造成局部电流受损甚至烧毁,导致器件寿命缩短设置潜在失效等灾难性后果. DC测试与隐藏电阻 许多DC测试或验证都是通过驱动电流测量电压或者驱动电压测量电流实现的,其实质是测量电流之…