现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的PM2.5就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow. DFT 第一步是做 scan chain,首先将电路中的普通 DFF 换成 scan DFF: scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :scan_in,scan_enable,scan_out 换完之后将所有的…

Debug and trace functions are integrated into the ARM Cortex-M4. Serial wire debug and trace functions are supported in addition to a standard JTAG debug and parallel trace functions. The ARM Cortex-M4 is configured to support up to eight breakpoints…

在很大规模的IC设计中,往往会有一些各种各样的bug出现,不论是在前期design的过程,还是在post silicon流片回来chip的flaw,都会导致chip的功能的失败,时钟频率无法达到期望频率.所以,在超大规模集成电路的设计中,DFT就是一门非常重要的方法学,在消费者手中,往往不知道他们的存在,但是在IC工程师眼中,DFT往往会是一个救命的稻草,让我们在芯片出问题的时候,可以知道从哪下手,找到bug的根源.在DFT中,有几种功能,是常常需要用到的.1. JTAG/1149.1 :几乎所…

一个典型的scan实现的flow: clock mux和一些rst,在Scan中都被bypass掉,是不能测到的.所以DFT的test coverage一般就在97%或98%. scan design rule checking and repair: 可以在presynthesis RTL design或者postsynthesis gate-level design上进行, 经过scan repair之后的design,称为testable design. scan synthsis是将一个…

DFT设计的主要目的是为了将defect-free的芯片交给客户. 产品质量,通常使用Parts Per million(PPM)来衡量. 但是随着IC从SSI到VLSI的发展,在test上花销的时间越来越多,test的quality却很难提高,这使得DFT的engineer不断的发展着DFT的技术. DFT engineer面对的第一个问题是设计内部的状态的可测试性问题.在1970-1980年间,提出了ad hoc等可测试性设计的方法. 可以提高一个design的可测试性,但是对于sequen…

Testability用来表征一个manufactured design的quality. 将testability放在ASIC前端来做,成为DFT(Design For Test),用可控(controllable)可观(observable)来表征. DFT的实现的两个大方向:ad hoc和structure. 1)ad hoc:利用良好的设计习惯,来保证testability.减少无关逻辑,异步逻辑,增加可控可查点. 2)structured:更加系统,自动的方法.包括三个方法: scan…

众所周知,芯片主要由三大部分构成. 芯片示例-可见下图 1.与电路板和其他芯片的接口-IO pad 2.存放程序的空间-RAM和ROM 3.搭建逻辑电路的基本组件 –标准逻辑单元 DFT工程师所有的工作的目的只有一个-设计和插入数字电路,测试整个芯片的制造质量,筛选出没有制造缺陷的芯片. 针对芯片的三大部分,DFT工程师手里有三大法宝 BSCAN技术-- 测试IO PAD,主要实现工具是Mentor-BSDArchit,sysnopsy-BSD Compiler MBIST技术-- 测试MEM,…

工程会接触DFT.需要了解DFT知识,但不需要深入. 三种基本的测试(概念来自参考文档): 1. 边界扫描测试:Boundary Scan Test: 测试目标是IO-PAD,利用JTAG接口互连以方便测试.(jtag接口,实现不同芯片之间的互连.这样可以形成整个系统的可测试性设计) 2. 内建自测试BIST:(模拟IP的关键功能,可以开发BIST设计.一般情况,BIST造成系统复杂度大大增加.memory IP一般自带BIST,简称MBIST) 3. 扫描测试(ATPG)Scan path:…

Q: Boundary Scan是什么?应用场景是什么?实现的方法是什么?挑战是什么? A: Boundary Scan就是边界扫描,是由Joint Test action Group起草的规范,最初是为了解决板级芯片之间的互联测试的问题,实现方法就是在芯片内部的每个I/O上面加上一个Boundary Scan cell 用于控制和观测每个I/O的状态,然后把每个I/O的bscell串连起来交由TAP控制器控制.TAP控制器按照 IEEE1149.1 规范通过5个I/O 串行与外界通讯.虽然Bo…

https://www.jianshu.com/p/f7a2bcaefb2e SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是: 产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX: 插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler. 通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M AC SCAN 也就是at-speed scan 即实速测试…