工程会接触DFT.需要了解DFT知识,但不需要深入. 三种基本的测试(概念来自参考文档): 1. 边界扫描测试:Boundary Scan Test: 测试目标是IO-PAD,利用JTAG接口互连以方便测试.(jtag接口,实现不同芯片之间的互连.这样可以形成整个系统的可测试性设计) 2. 内建自测试BIST:(模拟IP的关键功能,可以开发BIST设计.一般情况,BIST造成系统复杂度大大增加.memory IP一般自带BIST,简称MBIST) 3. 扫描测试(ATPG)Scan path:…

Q: Boundary Scan是什么?应用场景是什么?实现的方法是什么?挑战是什么? A: Boundary Scan就是边界扫描,是由Joint Test action Group起草的规范,最初是为了解决板级芯片之间的互联测试的问题,实现方法就是在芯片内部的每个I/O上面加上一个Boundary Scan cell 用于控制和观测每个I/O的状态,然后把每个I/O的bscell串连起来交由TAP控制器控制.TAP控制器按照 IEEE1149.1 规范通过5个I/O 串行与外界通讯.虽然Bo…

1.Boundary scan Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描.Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的初衷是为了解决在PCB上各个大规模集成电路间的信号互联测试需求,所以往往也被叫做JTAG(JTAG更是指由IEEE1149.1标准规定的4线接口极其控制逻辑如TAP.TDR等).现在 JTAG / BScan 已被绝大多数芯片设计公司和系统厂商所采用,作为一种芯片 IO PAD connectivit…

DFT设计的主要目的是为了将defect-free的芯片交给客户. 产品质量,通常使用Parts Per million(PPM)来衡量. 但是随着IC从SSI到VLSI的发展,在test上花销的时间越来越多,test的quality却很难提高,这使得DFT的engineer不断的发展着DFT的技术. DFT engineer面对的第一个问题是设计内部的状态的可测试性问题.在1970-1980年间,提出了ad hoc等可测试性设计的方法. 可以提高一个design的可测试性,但是对于sequen…

近半年的Intel实习生活快要结束了.马上要找工作了,这段时间打算把以前的知识复习复习,顺便在这里记录一下.这是当时去Intel面试的时候,面试官问的一道题.当时因为时间关系,只让我提供一个思路,并没有写出具体实现过程.下面把实现过程写上.主要是把IP地址转换成整数,这样比截取IP地址每一段内的值出来要快.最后把所有合法IP地址输出到文件中. #include <iostream> #include <string> #include <WinSock.h> #incl…

ilinx Vivado的使用详细介绍(3):使用IP核 Author:zhangxianhe IP核(IP Core) Vivado中有很多IP核可以直接使用,例如数学运算(乘法器.除法器.浮点运算器等).信号处理(FFT.DFT.DDS等).IP核类似编程中的函数库(例如C语言中的printf()函数),可以直接调用,非常方便,大大加快了开发速度. 方式一:使用Verilog调用IP核 这里简单举一个乘法器的IP核使用实例,使用Verilog调用.首先新建工程,新建demo.v顶层模块.(过…

在很大规模的IC设计中,往往会有一些各种各样的bug出现,不论是在前期design的过程,还是在post silicon流片回来chip的flaw,都会导致chip的功能的失败,时钟频率无法达到期望频率.所以,在超大规模集成电路的设计中,DFT就是一门非常重要的方法学,在消费者手中,往往不知道他们的存在,但是在IC工程师眼中,DFT往往会是一个救命的稻草,让我们在芯片出问题的时候,可以知道从哪下手,找到bug的根源.在DFT中,有几种功能,是常常需要用到的.1. JTAG/1149.1 :几乎所…

离散傅里叶变换(Discrete Fourier Transform,缩写为DFT),是傅里叶变换在时域和频域上都呈离散的形式, 将信号的时域采样变换为其DTFT的频域采样.在形式上,变换两端(时域和频域上)的序列是有限长的,而实际上 这两组序列都应当被认为是离散周期信号的主值序列.即使对有限长的离散信号作DFT,也应当将其看作其周期延 拓的变换.在实际应用中通常采用快速傅里叶变换计算DFT. 扫描路径设计 扫描路径法是一种针对时序电路芯片的DFT方案.其基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电…

众所周知,芯片主要由三大部分构成. 芯片示例-可见下图 1.与电路板和其他芯片的接口-IO pad 2.存放程序的空间-RAM和ROM 3.搭建逻辑电路的基本组件 –标准逻辑单元 DFT工程师所有的工作的目的只有一个-设计和插入数字电路,测试整个芯片的制造质量,筛选出没有制造缺陷的芯片. 针对芯片的三大部分,DFT工程师手里有三大法宝 BSCAN技术-- 测试IO PAD,主要实现工具是Mentor-BSDArchit,sysnopsy-BSD Compiler MBIST技术-- 测试MEM,…

ATE:ATE是Automatic Test Equipment的缩写,根据客户的测试要求.图纸及参考方案,采用MCU.PLC.PC基于VB.VC开发平台,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发.设计各类自动化测试设备. BIST:BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术,以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度.BIST技术的快速发展很大的原因是由于居高不下的ATE成本和电路的高复杂度.现在,高度集成的电路被…