DFT测试中,最重要的部分还是sequential circuit的内部状态的测试. 起初ad hoc的方法用来提高testability,可以提高局部的coverage,但并不是一个系统性的方法. structure的DFT方法,scan design被提出. ah hoc的方法主要是利用一些guide line和practice的经验来replacing bad design,主要的技术有: 1)insert test point; 2)avoid async set/reset for s…