如果终端不支持IC卡支持的其它传输协议以及传输参数值,IC卡应该有能力用基本ATR定义的模式和终端进行交互. 终端如果无法满足IC卡回送ATR中定义的传输模式,将发送一个热复位信号,或将IC卡置为静止状态以结束卡片操作过程. 复位应答中回送字符的最大个数(包括历史字符,但不包括TS)为32个. 1.TS--初始字符 起始字符TS具有两个功能:一是向终端提供一个便于位同步的已知位模式,二是指定解释后续字符的逻辑约定. 使用反向逻辑约定时,I/O的低电平状态等效逻辑1,并且该数据字节的最低位在起始位

对于分治(Divide and Conquer)的题目,最重要是 1.如何将原问题分解为若干个子问题, 2.子问题中是所有的都需要求解,还是选择一部分子问题即可. 还有一点其实非常关键,但是往往会被忽视:分解后的子问题除了规模较原问题小之外,必须和原问题具有相同的性质. 在子问题的划分时,只有这一点保证,才能递归求解子问题,从而得到solution. 下面通过几个例子,详细地介绍下这个思路. 题目一: You have n mobile phones and a contraption that

基础练习 芯片测试   时间限制:1.0s   内存限制:512.0MB    问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多. 每个芯片都能用来测试其他芯片.用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏.而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关). 给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片. 输入格式 输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数. 第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据.表中的每个数据为

基础练习 芯片测试   时间限制:1.0s   内存限制:512.0MB 问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多. 每个芯片都能用来测试其他芯片.用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏.而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关). 给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片. 输入格式 输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数. 第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据.表中的每个数据为0或1

问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多. 每个芯片都能用来测试其他芯片.用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏.而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关). 给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片. 输入格式 输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数. 第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据.表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第

思路: 1.当测试与被测试的芯片全部可以互相测试时,为好芯片; 示例代码: #include <stdio.h>#define N 20 int main(void){ int n = 0 ; int i = 0 , j = 0 , a = 0 , b = 0; int num[N][N] = {0}; scanf("%d",&n); for (i = 0 ; i < n ; i ++) { for (j = 0 ; j < n ; j ++) { sc

问题描述有n个(2<n<20)芯片,好的或坏的,并且有比坏的芯片更多的已知的好的芯片.每个芯片都可以用来测试其他芯片.当用一个好的芯片测试其他芯片时,它可以正确地给出被测芯片是好是坏.当用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好的或坏的测试结果(也就是说,这个结果与被测芯片的实际质量无关).给出所有芯片的测试结果,并询问哪些芯片是好的芯片.输入格式输入数据的第一个动作是一个整数n,它表示芯片的数量.n+1的第二行是行为n*n表,每行有n个数据.表中的女生化妆每个数据都是0或1.第i行第j列(1<

1)  冷复位(Cold Reset) 当IC卡的电源电压和其他信号从静止状态中复苏且申请复位信号时,IC卡产生的复位. 2)  热复位(Warm Reset) 在时钟(CLK)和电源电压(VCC)处于激活状态的前提下,IC卡收到复位信号时产生的复位. 1. 缺省模式 当IC卡上电时,COS向卡外发送"复位应答"序列,返回:3B6D0000,0081,543100,8660,1108160000xx(固定标识,T1-T2芯片制造商标识符,T3-T5操作系统版本,T6-T7卡片制造商标识

英文:known good die( KGD) / 中文:确认好裸芯片,合格芯片 完工的晶圆上有许多晶片存在,其单一品质有好有坏,经过老化试验后,其确知电性能良好的晶片即称为己知好晶片.不过,已知好晶片的定义具有很大分歧,即使同一公司对不同产品,或同一产品又有不同客户时,其定义也都难以一致.一种代表性说法是"某种晶片经老化与电测后仍有良好的电性品质,续经封装与组装的量产一年以上,仍能维持其良好率99.5%以上者,这种品片方可称为已知好晶片". map就是一个地图,WAFER来料时没有点

含光出自<列子·汤问>篇有“上古三剑”一章,寓意含而不露,光而不耀,象征含光 800 无形却强劲的算力. 含光 800 是一款 AI 芯片,偏重推理.据介绍,1 颗含光 800 的算力相当于 10 颗 GPU,目前基于含光 800 的 AI 云服务已在阿里云上线. 官方数据显示,含光 800 在芯片测试标准平台 Resnet 50 上的具体分数为:性能 78563 IPS,是第二名(15012)5 倍:能效比 500 IPS/W,是第二名(150)3.3 倍. 简单来说,含光 800 这样的

这部分数字逻辑课上老师在讲CMOS部分时有讲过,当时在课堂上放了一个全英的视频,没怎么看懂,现在在研究计算机系统,自底层说起,也得从这讲起. 主要参考: <嵌入式C语言自我素养> b站相关科普视频(文中给出链接) 00 从沙子到单晶硅 在所有的半导体材料中,目前只有硅在集成电路中大规模应用:在自然界中,Si是含量第二丰富的元素,如沙子中就含大量二氧化硅. 还记得高中化学必修一的内容吗?从沙子中提取高精度硅: 这时我们得到的是多晶硅,我们将多晶硅放入高温反应炉中融化,通过拉晶做出单晶硅棒(单晶硅

  ADS REALVIEW MDK RVDS 公司 ARM Keil(后被ARM收购) ARM 版本 最新1.2 ,被RVDS取代 最新4.0 是否免费 破解情况 有 有 工程管理 CodeWarrior IDE nVision IDE Eclipse/ CodeWarrior IDE 编译器 ARM C compiler for ADS ARM C/C++ Compiler (RVCT) ARM C/C++ Compiler (RVCT) 调试器 ARM Extention Degugger

验证是确保设计和预定的设计期望一致的过程,设计期望通常是通过设计规范来定义的.对于芯片设计,在不同的阶段可以分为:寄存器传输级(RTL)的功能验证.门级的仿真验证.形式验证以及时序验证.我们通常所说的验证一般是指RTL验证. 验证工作根据设计规范进行,详细的设计规范是RTL编码的依据,也是验证工作的依据.当验证过程发现被测设计(DUT)的响应与验证平台(Testbench)的期望不符时,需要根据设计规范判断是DUT出现错误还是Testbench出现错误,因此完整的.详细的设计规范是验证工作的重要

FPGA下载的三种方式:主动配置方式(AS)和被动配置方式(PS)和最常用的(JTAG)配置方式: AS由FPGA器件引导配置操作过程,它控制着外部存储器和初始化过程,EPCS系列.如EPCS1,EPCS4配置器件专供AS模式,目前只支持 Cyclone系列.使用Altera串行配置器件来完成.Cyclone期间处于主动地位,配置期间处于从属地位.配置数据通过DATA0引脚送入 FPGA.配置数据被同步在DCLK输入上,1个时钟周期传送1位数据. PS则由外部计算机或控制器控制配置过程.通过加强

英特尔 英特尔 基本资料   公司名称:英特尔(集成电路公司)    外文名称:Intel Corporation(Integrated Electronics Corporation)    总部地点: 美国加州圣克拉拉    成立时间:1968年7月16日    经营范围:半导体芯片    公司性质:美国独资    公司口号:Leap ahead      现状 年营业额: 533.4亿美元(2013年)    员工数: 105000(2013年)      其他信息 创始人: 诺伊斯,戈登

原文网址:http://www.52rd.com/bbs/dispbbs.asp?boardID=63&ID=228682 本人在国内某芯片设计公司工作近5年时间岗位是AE和FAE,两个工作量各一半吧.今日闲来无事写一些自己的体会与大家分享,不善写作请各位海涵.下文把FAE和AE简称为AE 1.AE和FAE在公司的江湖地位和重要性  AE从技术角度讲江湖地位是第二,第一当然是design engineer莫属.AE是产品设计阶段的重要延续.即使再牛的design engineer设计的产品也会有

当今许多企业的领导者几乎已经成为其企业的代名词,而在芯片业,我们听说的更多的是“龙芯”.“国芯”,他们的领导者的声音却鲜有传出.芯片业透出的强烈的民族色彩,也使这些隐身的企业家们的注意力更聚集在研发上,而坦然出现在镁光灯下的则是更能表达民族使命感的产品. 我们要感谢那些嗅觉灵敏的投资家,18号文件之后,大量的资本陆续涌入IC业,正在崛起的中国IC产业.IC企业.IC企业家们,正成为媒体关注的焦点 .为此,<中国高新技术企业>杂志开始独家搜索:是谁引擎了中国IC产业?<中国高新技术企业&g

大家好,我是豹哥,猎豹的豹,犀利哥的哥.今天豹哥给大家讲的是嵌入式调试里的接口标准JTAG. 在结束<ARM Cortex-M开发文件详解>系列文章之后,豹哥修整了一小段时间,但是讲课的心完全停不下来啊,所以忍不住新开了一个系列文章,叫<ARM Cortex-M调试过程探析>,本文是这个系列文章的第一篇,欢迎各位嵌入式朋友前来围观捧场~~~ 嵌入式开发中,大家免不了需要仿真调试代码,尤其是当应用工程功能逻辑复杂到一定程度时,免不了在写代码时会引入一些逻辑bug,仅靠代码审查有时候并

大家好,我是痞子衡,是正经搞技术的痞子.今天痞子衡给大家讲的是嵌入式调试里的接口标准JTAG. 在结束<ARM Cortex-M文件那些事>系列文章之后,痞子衡休整了一小段时间,但是讲课的心完全停不下来啊,所以忍不住新开了一个系列文章,叫<ARM Cortex-M调试那些事>,本文是这个系列文章的第一篇,欢迎各位嵌入式朋友前来围观捧场~~~ 嵌入式开发中,大家免不了需要仿真调试代码,尤其是当应用工程功能逻辑复杂到一定程度时,免不了在写代码时会引入一些逻辑bug,仅靠代码审查有时候并

S50(原V50) 测试机台湾久元电子研发的一款数字芯片测试系统,行业内有很多人使用: 现在记录下S50抓取pattern数据的一些方法: 程序主要是通过read_log配合c代码实现,pattern需要添加一个trigger pin(任意一个闲置的pin即可),trigger pin为0时表示开始抓取数据 下面是调试代码和实现结果:         .prg代码 SET_AC_DATALOG(LT86121RXE_read:READ_LOG_ST, LT86121RXE_read:READ_L

组合逻辑与时序逻辑 组合逻辑电路:任意时刻电路输出的逻辑状态仅仅取决于当时输入的逻辑状态,而与电路过去的工作状态无关. 时序逻辑电路:任意时刻电路输出的逻辑状态不仅取决于当时输入的逻辑状态,而与电路过去的工作状态有关. 在电路的结构上,时序逻辑电路肯定包含有存储电路,而且输出一定与存储电路的状态有关. COMS与TTL电平 常用逻辑电平:12V,5V,3.3V:TTL和CMOS不可以直接互连,由于TTL是在0.3-3.6V之间,而CMOS则是有在12V的有在5V的.CMOS输出接到TTL是可以直