#include "led.h" #include "delay.h" #include "key.h" #include "sys.h" #include "lcd.h" #include "usart.h" #include "adc.h" #include "stdio.h" int main(void) { u16 adcx,adcy,ad

/******************************************* 程序功能:利用单线制DS18B20温度传感器 LED数码管显示当前的温度值 ********************************************/ #include <reg51.h>                 //DS18B20温度传感器程序 code unsigned char seg7code[]={0xc0,0xf9,0xa4,0xb0,0x99,0x92, 0x82,0

http://www.mcuol.com/tech/109/30923.htm

单片机ADC检测4-20mA电路,以及计算方法 转载:https://www.hongchangzidonghua.com/?id=24 1,手里有一个4-20mA输出的压力传感器,假设测量范围是0MPa到2MPa,具体多少忘了,计算方便取个整数.单片机要做的就是采集到这个信号,而且计算出当前的压力.下面给大家一个参考. 2,4-20mA信号在工业上是非常常见的一种信号,应用在各种传感器的输出上,突出优点就是抗干扰能力强,大家都知道,串联电路中,电流处处相等,那么信号线再长(比如几十米)也不用担

今天要做的是ADC单通道DMA采集实验 MCU : STM32F429 开发工具:STM32CubeMx 版本号 5.0.0 实验目的:实现ADC1 13通道 DMA采集 一 :简介 首先,我们来看一下STM32F4XX参考手册里关于该芯片的ADC功能介绍 二:STM32CubeMx 配置 数据对齐方式 为 右对齐 使能 连续转换模式,DMA连续请求 设置采样次数 为 3个周期 配置 DMA Mode设置为Circular模式,数据宽度设置为Half Word  2个字节 设置好之后,点击GEN

keil开发L0系列是免费的,官方提供许可的.因此建议Keil开发,L011F3由于flash只有8K,因此不建议HAL库,建议使用cubemx+LL(或snippets库).0.起初,可以参考官方库中自带的例程,有LL例程,MIX(LL+HAL混合)例程,HAL例程,snippets(基于L053)例程.建立自己的工程,如果不太熟悉L0系列,可以使用cubemx来进行配置,生成最基本的工程模板,然后可以再结合例程,移植到工程当中,1.使用cubemx新建LL库的基本例程,可以把GPIO+UAR

///////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// 注意:这里是无符号,,有移就相当于,,把最右边的数据舍去,,,相当于除2,取整的意思吧 举个例子:  8  的二进制是 :    00001000 的十六进制是 :0x08 当然我们只分析二进制 0000 1000 8/2=4          4

1. 引言 随着科学技术的发展,人们对宏观和微观世界逐步了解,越来越多领域(物理学.化学.天文学.军事雷达.地震学.生物医学等)的微弱信号需要被检测,例如:弱磁.弱光.微震动.小位移.心电.脑电等[1-3].测控技术发展到现在,微弱信号检测技术已经相对成熟,基本上采用以下两种方法来实现:一种是先将信号放大滤波,再用低或中分辨率的ADC进行采样,转化为数字信号后,再做信号处理,另一种是使用高分辨率ADC,对微弱信号直接采样,再进行数字信号处理.两种方法各有千秋,也都有自己的缺点.前一种方法,ADC

采集时间 采集时间是从释放保持状态(由采样-保持输入电路执行)到采样电容电压稳定至新输入值的1 LSB范围之内所需要的时间.采集时间(Tacq)的公式如下: 混叠 根据采样定理,超过奈奎斯特频率的输入信号频率为“混叠”频率.也就是说,这些频率被“折叠”或复制到奈奎斯特频率附近的其它频谱位置.为防止混叠,必须对所有有害信号进行足够的衰减,使得ADC不对其进行数字化.欠采样时,混叠可作为一种有利条件. 孔径延迟 ADC中的孔径延迟(tAD)是从时钟信号的采样沿(下图中为时钟信号的上升沿)到发生采样时

在我们的应用项目中需要采集一些模拟量,这些量使用MCU自带的ADC就可以满足要求.在NUCLEO-F412ZG实验板上的STM32F412ZG有一个16通道的ADC,我们试验用它采集几个数据. 在NUCLEO-F412ZG实验板上,ADC1的第10通道(PC0)和第13通道(PC3)分别引到了CN9-3和CN9-5上.如下图红框所示: 我们利用这两个通道采集信号,一个定义为24VDC电源的检测,一个定义为5VDC电源的检测.同时采集MCU集成的内部温度传感器采集和内部参考电压采集.具体通道选择如

我造轮子,你造车,创客一起造起来!塔克创新资讯[塔克社区 www.xtark.cn ][塔克博客 www.cnblogs.com/xtark/ ]      本文介绍X-CTR100控制器 AD转换接口的使用,采集模拟信号及芯片温度. 原理 处理器STM32F407具有3个ADC,12位逐次逼近型,具有19个ADC检测通道,可测量16个外部源.2个内部源和VBAT电压,最大转换速率为2.4MHz. STM32F4芯片内部具有温度传感器,连接ADC1_IN16通道,通过ADC实现温度采集,温度传感

在很多电子类应用场合中,我们经常需要采集产品工作的周围环境温度,一般采取的方式有两种: 1)外加温度传感器 2)采用MCU内部温度传感器 外加温度传感器会增加产品的成本以及布板空间,所以在很多场合,我们只要使用内部温度传感器就可以了,今天给大家介分享一下自带内部温度传感器EFM32JG系列MCU的使用方法和步骤. 基本原理: EFM32JG的内部ADC集成在模拟模块部分,内部温度传感器上面的电压随着温度变化,需要通过12bit ADC采集温度传感器的ADC值,把ADC值换算成为温度值. 第一步:

可以这样理解 先配置adc :有几个通道就配置几个通道. 然后配置dma,dma是针对adc的,而不是针对通道的. 一开始我以为一个adc通道对应一个dma通道.(这里是错的,其实是我想复杂了) 一个adc,对应一个dma. adc可以开多个通道.比如采集电池的电量是一个通道,采集单片机温度是另一个通道. adc1的所有通道对应着dma的某一个通道. 然后开启后dma,就会依次把各通道的数据存入数组: 数组元素1: 通道1的数据 数组元素2: 通道2的数据 数组元素3: 通道3的数据 数组元素4

转载自:http://www.cnblogs.com/UQYT/articles/2949794.html 这是一个综合的例子,演示了ADC模块.DMA模块和USART模块的基本使用. 我们在这里设置ADC为连续转换模式,常规转换序列中有两路转换通道,分别是ADC_CH10(PC0)和ADC_CH16(片内温度传感器).因为 使用了自动多通道转换,数据的取出工作最适合使用DMA方式取出,so,我们在内存里开辟了一个u16 AD_Value[2]数组,并设置了相应的DMA模块,使ADC在每个通道转

一.代码分享: 1.ADC头文件 #ifndef ADC_H_ #define ADC_H_ #include "common.h" typedef enum { // ---------------------------------ADC0------------------------- ADC0_DP0 = , // PTE20 ADC0_SE0 = , ADC0_DP1 = , // PTE16 ADC0_SE1 = , ADC0_DP2 = , // PTE18 ADC0_

分辨率和精度这两个,经常拿在一起说,才接触的时候经常混为一谈.对于ADC来说,这两样也是非常重要的参数,往往也决定了芯片价格,显然,我们都清楚同一个系列,16位AD一般比12位AD价格贵,但是同样是12位AD,不同厂商间又以什么参数区分性能呢?性能往往决定价格,那么什么参数对价格影响较大呢?不好意思,我其实还是有些迷惑的,但是看了下篇文章,至少知道“精度”是有很大影响力的.该篇文章主要解释ADC分辨率和精度的区别,非常详细且易懂,值得一看,全文如下: 最近做了一块板子,当然考虑到元器件的选型了,

/* 松瀚 SN8P2711 2722 ADC初始化程序 及应用实例 */ INIT_ADC: MOV A, #0XB2 // 启动ADC电路 使能AIN通道 B0MOV ADM, A MOV A,#0XF0 B0MOV ADR,A ; Fad = 1/2 Fcpu 设置ADC转换速率 ; 纯模拟输入口设置 MOV A,#0X1C ;设置 P4.2 3 4为模拟AD口 B0MOV P4CON,A RET //---应用实例----- //*****************************

//ADC通道号定义 #define ADC_Chanel0 (unsigned char)0x00 #define ADC_Chanel1 (unsigned char)0x01 #define ADC_Chanel2 (unsigned char)0x02 #define ADC_Chanel3 (unsigned char)0x03 #define ADC_Chanel4 (unsigned char)0x04 #define ADC_Chanel5 (unsigned char)0x05

N76E003内嵌12位逐次逼近寄存器型(SAR)的模拟数字转换器(ADC).模数转换模块负责将管脚上的模拟信号转换为12位二进制数据.N76E003支持8通道单端输入模式.内部带隙电压(band-gap voltage)为1.22V,同时也可用作内部ADC输入端.所有模拟电路复用同一组采样电路和同一组采样保持电容.该组采样保持电容为转换电路的输入端.然后转换器通过逐次逼近的方式得到有效结果并存放在ADC结果寄存器中. 在开始ADC转换前,通过设置ADCEN (ADCCON1.0)位使能ADC电

笔者最近在做的一个项目中,用到一片16位的高分辨率的芯片,借此再学习一下由于ADC和DAC的相关知识,以此巩固. 关于ADC的精度和分辨率将在另外一篇博客讨论,分辨率不等于精度. 一块精度0.2%(或常说的准确度0.2级)的四位半万用表,测得A点电压1.0000V,B电压1.0005V,可以分出B比A高0.0005V,但A点电压的真实值可能在0.9980~1.0020之间不确定. 那么,既然数字万用表存在着精度和分辨率两个指标,那么,对于ADC和DAC,除了分辨率以外,也存在精度的指标.模数器件

1.ADC简介 STM32 拥有 1~3 个 ADC(STM32F101/102 系列只有 1 个 ADC)STM32F103至少拥有2个ADC,STM32F103ZE包含3个ADC,这些 ADC 可以独立使用,也可以使用双重模式(提高采样率).STM32 的 ADC 是 12 位逐次逼近型的模拟数字转换器.它有 18 个通道,可测量 16 个外部和 2 个内部信号源.各通道的 A/D 转换可以单次.连续.扫描或间断模式执行.ADC 的结果可以左对齐或右对齐方式(12位)存储在 16 位数据寄存