转 STM32内部参照电压VREFIN的使用 https://blog.csdn.net/uncle_guo/article/details/50625660 每个STM32芯片都有一个内部的参照电压,相当于一个标准电压测量点,在芯片内部连接到ADC1的通道17.   根据数据手册中的数据,这个参照电压的典型值是1.20V,最小值是1.16V,最大值是1.24V.这个电压基本不随外部供电电压的变化而变化.   不少人把这个参照电压与ADC的参考电压混淆.ADC的参考电压都是通过Vref+提供的.

如何利用单片机的ADC模块(或者独立的ADC芯片)得到接入ADC管脚上的实际电压值?这个问题,是第一次接触ADC时候,大家都会遇到的问题.会读到什么值单片机会读到什么值?需要看一个特性,就是几位的ADC,在手册上就会给出,例如,STM32的ADC是12位的.另外,还有8位,10位,16位,24位等.我先告诉你答案:STM32读到的ADC值,是从0到4095,当你把ADC引脚接了GND,读到的就是0,当你把ADC引脚接了VDD,读到的就是4095.接下来告诉你为什么:前面提到,STM32的ADC是

1.问题 1)10位ADC的误差是多少? 首先要分清分辨率与精度的区别. 10cm的尺子,有100个等分刻度,则该尺子的分辨率为1mm. 但不能说这把尺子的精度是1mm. 在冬天,尺子会热胀冷缩,依然有100格刻度,每格刻度代表1mm,但每格刻度与真实的1mm是不同的,精度在变化. 实际上,10位的ADC将会把基准电压分成1024份,分辨率为:基准电压/1024. 2)ADC的采样频率是多少? 芯片开发手册上转换时间公式为: 例子中,采样频率为1MHz. 3)STM32F103这款芯片有多少个A

在常用传感器中,模数转换器是其中至关重要的环节,模数转换器的精度以及系统的成本直接影响到系统的实用性.因此.如何提高模数转换器的精度和降低系统的成本是衡量系统是否具有实际应用价值的标准. 图 1    ADC工作流程 一.ADC简单介绍                                                                              ADC可分为SAR型.积分型.Σ-Δ型.折叠型等方式.SAR ADC因其功耗低.精度高.面积小等特点而被用于

转自:http://bbs.dzsc.com/space/viewspacepost.aspx?postid=86760 摘要:逐次逼近寄存器型(SAR)模数转换器(ADC)占据着大部分的中等至高分辨率ADC市场.SAR ADC的采样速率最高可达5Msps,分辨率为8位至18位.SAR架构允许高性能.低功耗ADC采用小尺寸封装,适合对尺寸要求严格的系统. 本文说明了SAR ADC的工作原理,采用二进制搜索算法,对输入信号进行转换.本文还给出了SAR ADC的核心架构,即电容式DAC和高速比较器.

SAR型 (逐次逼近型) 摘要:逐次逼近寄存器型(SAR)模数转换器(ADC)占据着大部分的中等至高分辨率ADC市场.SAR ADC的采样速率最高可达5Msps,分辨率为8位至18位.SAR架构允许高性能.低功耗ADC采用小尺寸封装,适合对尺寸要求严格的系统. 本文说明了SAR ADC的工作原理,采用二进制搜索算法,对输入信号进行转换.本文还给出了SAR ADC的核心架构,即电容式DAC和高速比较器.最后,对SAR架构与流水线.闪速型以及Σ-Δ ADC进行了对比. 引言 逐次逼近寄存器型(SAR

1.为实现二进制搜索算法,N位寄存器首先设置在中间刻度(即:100... .00,MSB设置为1).这样,DAC输出(VDAC)被设为VREF/2,VREF是提供给ADC的基准电压.然后,比较判断VIN是小于还是大于VDAC.如果VIN大于VDAC,则比较器输出逻辑高电平或1,N位寄存器的MSB保持为1.相反,如果VIN小于VDAC,则比较器输出逻辑低电平,N位寄存器的MSB清0.随后,SAR控制逻辑移至下一位,并将该位设置为高电平,进行下一次比较.这个过程一直持续到LSB.上述操作结束后,也就

是采样速率低于5Msps (每秒百万次采样)的中等至高分辨率应用的常见结构. SAR ADC的分辨率一般为8位至16位,具有低功耗.小尺寸等特点. 这些特点使该类型ADC具有很宽的应用范围,例如便携/电池供电仪表.笔输入量化器.工业控制和数据/信号采集等. 顾名思义,SAR ADC实质上是实现一种二进制搜索算法. 所以,当内部电路运行在数兆赫兹(MHz)时,由于逐次逼近算法的缘故,ADC采样速率仅是该数值的几分之一. SAR ADC的架构 尽管实现SAR ADC的方式千差万别,但其基本结构非常简

STM32的ADC转换还是很强大的,它具有多个通道选择,这里我就不细说,不了解的可以自行百度,这里只是选取单通道,实现ADC转换.在文章开始之前,我说一下数据左对齐跟右对齐的差别,以前一直糊里糊涂的,记录下来以免以后自己忘记.12位二进制最大值为 0x0FFF 左对齐操作后的结果是 0xFFF0,右对齐后还是0x0FFF.反过来看 ,若寄存器里左对齐的数据值X (相当于实际数据*16,所以左对齐转换的值要/16才是实际的值),则X>>4才是实际的数据.而右对齐,则是数据保持不变,采集到多少就多

ADC 计算机的世界是0和1的.单片机可以通过读取0和1来确定按键状态,也可以输出0和1来控制LED.即使是看起来不太0和1的PWM,好像可以输出0到5V之间的电压一样,达到0和1之间的效果,但本质上还是高低电平. 但是,世界上终究还是有0和1无法表示的.如果引脚上被施加0到5V之间的电压,寄存器PINx无法告诉我们具体情况,只能指示这个电压是1.5V以下还是3V以上(参考数据手册"Electrical characteristics").这种可以连续变化的信号称为模拟信号,与离散的.

单片机ADC检测4-20mA电路,以及计算方法 转载:https://www.hongchangzidonghua.com/?id=24 1,手里有一个4-20mA输出的压力传感器,假设测量范围是0MPa到2MPa,具体多少忘了,计算方便取个整数.单片机要做的就是采集到这个信号,而且计算出当前的压力.下面给大家一个参考. 2,4-20mA信号在工业上是非常常见的一种信号,应用在各种传感器的输出上,突出优点就是抗干扰能力强,大家都知道,串联电路中,电流处处相等,那么信号线再长(比如几十米)也不用担

3位sar adc采用下图的电容阵列,需要23个电容,它的基本单元有二进制加权的电容阵列.1个与LSB电容等值的电容:它利用电容上的初始电荷再分配完成二进制搜索算法,因此功耗一般比较小,而且不需要额外的采样保持电路1. 上一篇文章<一种4位sar adc工作过程推导(二)>讨论了两个参考电压VrefP和VrefN取值的一般情况,得出"此电路无法适用参考电压取值的一般情况,VrefN必须接gnd,才能逐次逼近比较的"的结论,随着对ADC理论的逐步学习,其实可以通过改变电路的结

ADSP-BF512 :Low Power Blackfin with Consumer Devices Connectivity The ADSP-BF512 is the low cost entry point into the Blackfin Processor family. It offers an optimal balance between performance, peripheral integration, and price and is well suited fo

1.前言 k64 datasheet描述了Freescale MCU的特性.架构和编程模型,主要是面向使用MCU的系统架构和软件应用开发人员. 2.模块划分 datasheet主要按功能对模块进行划分,包括如下模块: 模块名称 模块说明 ARM® Cortex®-M4 core ARM Cotex M4 32-bit MCU core,加上DSP指令和基于ARMV7架构的单精度浮点单元 System 系统集成模块? 电源管理和多模式控制 唤醒单元 杂项控制模块 Crossbar switch ?

利用基准电压效正Vcc做参考电压的ADC采样计算方法

1. STM32F405没有参考电压的输入引脚,那么可能是接的VDDA和VSSA 2. 看下文档的说明

一.模数转换的一般步骤: 1)采样和保持 为了把模拟信号转换成对应的数字信号,必须首先将模拟量每隔一定时间抽取一次样值,使时间上连续变化的模拟量变为一个时间上断续变化的模拟量,这个过程称为采样. 为了保证采样后的信号能恢复原来的模拟信号,要求采样的频率fs与被采样的模拟信号的最高频率fimax应满足下面关系:fs≥2fimax 2)量化和编码 数字信号不仅在时间上是离散的,而且数值大小的变化也是不连续的. 这就是说,任何一个数字量的大小只能是某个规定的最小数值的整数倍. 而采样-保持所得的电压信

源:使用STM8SF103 ADC采样电压 硬件环境: STM8SF103 TSSOP20封装 因为项目需要用到AD采样电池电压,于是便开始了使用STM8S ADC进行采样,也就有了下文. 手册上对STM8S ADC的管脚描述如下: STM8SF103这款芯片是TSSOP 20管脚封装,如下: STM8SF103这款芯片能用的是5个AD采样通道,分别是AIN2~AIN6.其实是还有一个通道AIN7,但手册并没有对其描述. 这里还有一个很奇怪的地方,从ST资料中找到一个与上面的表数据不同的地方,如

在使用ST MCU开发过程中,有人问如果电源电压是变动的,询问有无办法用比较简洁的办法对电源电压进行监测,或者说电源电压波动情况下能否检测出其它待测的AD输入电压. 这里跟大家分享交流一个方法.就是在没有其它外来参考电压,用芯片电源电压VDD作为ADC的参考电压,同时该电源电压又在一定范围内变动的情况下[这个范围就是在保证芯片正常工作的范围],利用MCU芯片内部自带基准电压对电源电压进行监测. 在我印象中[ST MCU系列和型号太多了,记不住],几乎每颗ST MCU芯片内部都有个相对稳定且不受电

LM35是美国国家半导体(后被TI收购)推出的精密温度传感IC系列,其信号输出方式为模拟输出,输出电压值与摄氏温度值呈正比,且用户不需额外的校正就能获得较高的测量精度.其主要特性有: 供电电压:4~30V 测量范围:与芯片相关,单个正电源供电时最大+2~+150°C 测量精度:与芯片.测量温度有关,如下图.可见室温附近误差典型值大约在+/-0.5°C,最大值在+/-0.5°C到+/-1.5°C不等.本文中使用的LM35D是精度最差的芯片,误差最大值约+/-1.5°C. 功耗:与测量电路.温度有关