这个2个有什么区别啊 mmcm 和pll?  1.DCM实际上就是一个DLL,可以对输入时钟进行相位移动,补偿,产生倍频和分频时钟,但是5以及以后的产品不用了.2.PLL相对于DCM,除了不能相移时钟,其它的都一样,但是PLL产生时钟的频率比DCM更加精准,而且时钟的jitter也更好.3.MMCM实际上就是PLL+DCM相移功能的结合体.7系列的FPGA还会在临近I/O部分放置一些PLL,专门给MIG来产生DDR时钟.

摘自网上 : http://xilinx.eetop.cn/viewnews-1482 The DCM is a Digital Clock Manager - at its heart it is a Delay Locked Loop. This has the ability to deskew a clock, generate different phases of the clock, dynamically change the phase of a clock, generate

情景描述: 芯片:zynq7020 问题: 设计从FPGA的U19引脚上的开发板板接收时钟输入125M,并将其送到两个MMCM.使用软件:vivado2015.4在Vivado中打开合成设计后,我得到以下Crticial警告: Failed to create I/OLOGIC Route Through shape for instance MMCM_2/inst/clkin1_ibufg. Found overlapping instances within the shape: MMCM_

MBist技术可以自动实现存储器单元或阵列的RTL级内建自测试电路,MBIST的EDA工具支持多种测试算法的自动实现,可针对一个或多个内嵌存储器自动创建BIST逻辑,并完成BIST逻辑与存储器的连接,此外MBIST结构中还可包括故障自动诊断功能,方便了故障定位和开发针对性测试向量.本文将介绍用于嵌入式存储器设计的MBIST技术,并对其电路结构进行讨论. 随着半导体工艺尺寸不断缩小,IC设计的规模越来越大,高度复杂的IC产品正面临着高可靠性.高质量.低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战.一

https://www.jianshu.com/p/f7a2bcaefb2e SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是: 产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX: 插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler. 通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M AC SCAN 也就是at-speed scan 即实速测试

最初的问题是 编译内核添加了 spi 支持,配置了 board 后,加载25q64驱动不执行probe 函数. 然后发现是,spi-s3c24xx.c 中的 probe 没有执行完就退出了 没有生成 spi-master /drivers/spi/spi-s3c24xx.c定位在 出错hw->clk = devm_clk_get(&pdev->dev, "spi");if (IS_ERR(hw->clk)) {    dev_err(&pdev->

从时钟源的角度,分为两类外部时钟(E)和内部时钟(I).从时钟速率的角度,分为两类高速时钟(HS)和低速时钟(LS).而把它们组合起来就有四种时钟:HSE.HIS.LSE.LSI.至于为什么会有这么复杂的时钟配置,主要是考虑到系统的性能和功耗两个方面的因素吧.单一时钟的话可能会导致性能过剩并且功耗过高.多个时钟的话可以平衡功耗和性能之间的平衡.特此说明一下,系统复位后,默认初始化的是HIS时钟提供sysclock.也就是16MHZ.为了提示系统性能,我们需要使能外部时钟晶振(板载25MHz).使

十.MC8051软核在FPGA上的使用 本教程内容力求以详细的步骤和讲解让读者以最快的方式学会 MC8051 IP core 的应用以及相关设计软件的使用,并激起读者对 SOPC 技术的兴趣.本实验重点讲 8051Core 的应用,并通过一个简单 C51 程序对 51Core 进行硬件测试. 本实验教程的内容编排如下: 第 1 章简单的描述了 MC8051 IP core 的基本结构及一些应用说明. 第 2 章详细的介绍 8051Core 综合.编译应用.包括 Quartus II软件的基本应用

 mini2440之Main分析 2012-03-17 20:51:29 分类: 嵌入式 /**************************************************************** NAME: u2440mon.c DESC: u2440mon entry point,menu,download HISTORY: Mar.25.2002:purnnamu: S3C2400X profile.c is ported for S3C2410X. Mar.27.

Test access port (TAP) JTAG defines a TAP (Test access port). The TAP is a general-purpose port that can provide access to many test support functions built into a component. It is composed as a minimum of the three input connections (TDI, TCK, TMS)

NIOS II CPU复位异常的原因及解决方案   近期在用nios ii做项目时,发现一个奇怪的现象,在NIOS II EDS软件中编写好的代码,烧写到芯片中,第一次能够正常运行,但是当我按下板卡上的复位键之后,系统却卡死了,再也运行不起来,除非重新下载程序.经过分析系统可知,系统的硬件设计和Qsys系统中NIOS II CPU系统的搭建都是没有任何问题的.那么为什么会存在这样的问题呢,这里我先简单介绍下我的系统: 我的系统主要由NIOS II最强板CPU,SDRAM.预留系统定时器.预留时间

OpenBoot PROM简称OBP,相当于PC的BIOS,是控制SUN服务器的引导过程.初始化配置某些硬件并提供某些诊断的工具.常见OBP命令 boot boot:从默认设备启动boot -s:从默认设备启动到单用户boot cdrom: 从光盘启动boot cdrom -s: 从光盘启动一个可运行的系统 reset 重启 banner 显示加电系统信息 printenv 显示所有环境变量的当前值与默认值 setenv 设定环境变量 resetall 重设整个系统 set-default 将所

边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术,是在传统的在线测试不在适应大规模,高集成电路测试的情况下而提出的,就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL.这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态.当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(data register chain),我门叫它边界寄存器(boundaryregister).除了上面的移位寄存器外,在IC上还集成测试

大家好,我是豹哥,猎豹的豹,犀利哥的哥.今天豹哥给大家讲的是嵌入式调试里的接口标准JTAG. 在结束<ARM Cortex-M开发文件详解>系列文章之后,豹哥修整了一小段时间,但是讲课的心完全停不下来啊,所以忍不住新开了一个系列文章,叫<ARM Cortex-M调试过程探析>,本文是这个系列文章的第一篇,欢迎各位嵌入式朋友前来围观捧场~~~ 嵌入式开发中,大家免不了需要仿真调试代码,尤其是当应用工程功能逻辑复杂到一定程度时,免不了在写代码时会引入一些逻辑bug,仅靠代码审查有时候并

大家好,我是痞子衡,是正经搞技术的痞子.今天痞子衡给大家讲的是嵌入式调试里的接口标准JTAG. 在结束<ARM Cortex-M文件那些事>系列文章之后,痞子衡休整了一小段时间,但是讲课的心完全停不下来啊,所以忍不住新开了一个系列文章,叫<ARM Cortex-M调试那些事>,本文是这个系列文章的第一篇,欢迎各位嵌入式朋友前来围观捧场~~~ 嵌入式开发中,大家免不了需要仿真调试代码,尤其是当应用工程功能逻辑复杂到一定程度时,免不了在写代码时会引入一些逻辑bug,仅靠代码审查有时候并

参考文档链接:https://pan.baidu.com/s/1kuXJmULwtjOW1TeOuTRPQQ *时钟极性和相位 BCM538X / BCM5396用于根据以下标准发送/接收SPI数据:•时钟极性(CPOL)= 0或1 :•时钟相位(CPHA)= 1 :CPOL由SS在空闲状态下从高电平变为低电平时SCK的值确定. 这些参数在BCM538X / BCM5396上不可编程. 外部SPI器件需要与BCM538X / BCM5396的参数保持一致才能正常通信.时钟极性 (CPOL)- 如

边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术,是在传统的在线测试不在适应大规模,高集成电路测试的情况下而提出的,就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL.这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态.当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(Data Register Chain),我们叫它边界寄存器(Boundary Register).除了上面的移位寄存器外,在IC上还集成测

ARM JTAG 调试原理 JTAG的接口是一种特殊的4/5个接脚接口连到芯片上 ,所以在电路版上的很多芯片可以将他们的JTAG接脚 通过Daisy Chain的方式连在一起,并且Probe只需连接到一个“JTAG端口”就可以访问一块印刷电路板上的所有IC. 这些连接引脚是: TDI(测试数据输入) TDO(测试数据输出) TCK(测试时钟) TMS(测试模式选择) TRST(测试复位)可选. 因为只有一条数据线,通信协议有必要像其他串行设备接口,如SPI一样为串列传输. 时钟由TCK引脚输入.

用户在调试内嵌可综合内核的 CPU 如 ARM7TDMI-S 时,需要通过打开仿真器的自适应时钟功能. 此时,ARM仿真器根据 RTCK 时钟信号的频率,产生可用于 CPU 内核当前时钟主频的最快的 TCK 时钟. 即 ARM 内核的时钟主频变化,引起 RTCK 变化, 仿真器根据 RTCK 的变化,产生合适的最快的 TCK 时钟. 如果没有有效的 RTCK 信号,用户不能使用自适应时钟功能.这种情况下,用户可以设置 TCK 为比较低的频率. 当用户确认 CPU 运行在比较高的频率的情况下,可以

http://www.dzsc.com/data/html/2008-12-23/75397.html JTAG测试信号由下面5个信号组成. TRST:测试复位输入信号,测试接口初始化 TCK:测试时钟,在TCK时钟的同步作用下,通过TDI和TDO引脚串行移入/移出数据或指令:同时,也为TAP(测试访问端口)控制器的状态机提供时钟. TMS:测试模式选择信号,控制测试接口状态机的操作. TDI:测试数据输入线,其串行输入数据至边界扫描寄存器或指令寄存器(由TAP控制器的当前状态及己保存在指令寄存

工程会接触DFT.需要了解DFT知识,但不需要深入. 三种基本的测试(概念来自参考文档): 1. 边界扫描测试:Boundary Scan Test: 测试目标是IO-PAD,利用JTAG接口互连以方便测试.(jtag接口,实现不同芯片之间的互连.这样可以形成整个系统的可测试性设计) 2. 内建自测试BIST:(模拟IP的关键功能,可以开发BIST设计.一般情况,BIST造成系统复杂度大大增加.memory IP一般自带BIST,简称MBIST) 3. 扫描测试(ATPG)Scan path: