转 STM32内部参照电压VREFIN的使用 https://blog.csdn.net/uncle_guo/article/details/50625660 每个STM32芯片都有一个内部的参照电压,相当于一个标准电压测量点,在芯片内部连接到ADC1的通道17.   根据数据手册中的数据,这个参照电压的典型值是1.20V,最小值是1.16V,最大值是1.24V.这个电压基本不随外部供电电压的变化而变化.   不少人把这个参照电压与ADC的参考电压混淆.ADC的参考电压都是通过Vref+提供的.

神通广大的各位互联网的网友们.大家早上中午晚上好好好.今早起来很准时的收到了两条10086的扣月租的信息.心痛不已.怀着这心情.又开始了STM32的研究.早上做了计算机控制的PID实验,又让我想起了飞思卡尔的电磁小车..曾经的电感电压采集让我心碎的多少次.又让我开心了多少次.但已经成为过去.(软件和硬件都会影响),呵呵.估计有人已经猜到我接下来要介绍什么了.在你们面前.我已无秘密.额.其实标题也直接“表白”了.看到标题,别吓到哈.并不是要用英文写.至于原因是什么.请往下看: 好吧.言归正传:ST

  最近需要用到两个ADC对电压电流进行同步采样,看了一下STM32的ADC介绍,发现STM32最多有3个独立ADC,有在双AD模式下可以进行同步测量,正好满足我的要求.参考官方给的例子在结合自己的需要写了一下配置程序. 程序1 根据官方例子写的: #include"adc.h" __IO uint32_t ADC_DualConvertedValueTab[ADC_BufferLength]; void ADC1_2_Init(void) { ADC_InitTypeDef ADC_

未完,待续...... 也就是stm32f10X系列的adc采集出来的结果是12位的 stm32f10X系列有两个16位adc 关于程序的编写方法:一般  “某某.c文件”:都是用来设置“某某”的一些参数,在初始化函数里:还有就是“某某”的一些动作,比如小灯的亮灭. “某某.h文件”:都是与.c文件配对的,主要是包含“某某.c”文件中的变量名和函数名. 这样一来程序中所有的功能被拆分成块,如:显示用的屏幕部分,输入用的按键部分,采集数据用的传感器部分······ 并把每个部分都变成了成对的.h和

版权声明:本文为博主原创文章,未经博主允许不得转载. https://blog.csdn.net/zouleideboke/article/details/75112224 ADC简介: ADC(Analog-to-Digital Converter,模/ 数转换器).也就是将模拟信号转换为数字信号进行处理,在存储或传输时,模数转换器几乎必不可少. STM32在片上集成的ADC外设非常强大,我使用的奋斗开发板是STM32F103VET6,属于增强型的CPU,它有18个通道,可测量16个外部和2个

很多时候,一个电压不仅仅需要定性(高电平或者低电平),而且要定量(了解具体电压的数值).这个时候就可以用到模数转换器(ADC)了.这次的内容是测量开发板搭载的滑动变阻器(VR1)的电压,然后把ADC转换的结果通过UART打印出来.同时,也简单介绍了校准的方法. SAM4E芯片中,ADC是由AFEC管理的.同时,AFEC可以使用一个多路复用器以选择需要转换的信号的通道,也可以通过平均多次ADC转换的结果以提高转换精确度. 一. 电路图 通过顺时针方向旋转该变阻器,PB1引脚电压将变大,其电压变化范

http://blog.csdn.net/varding/article/details/17559399 http://www.51hei.com/stm32/3842.html https://www.amobbs.com/forum.php?_dsign=7ed5b68e&mod=viewthread&tid=4132217 STM32 如何用外部脉冲触发DMA,开始ADC采样? http://blog.csdn.net/gtkknd/article/details/40155287

Stm32的ADC有DMA功能这都毋庸置疑,也是我们用的最多的!然而,如果我们要对一个信号(比如脉搏信号)进行定时采样(也就是隔一段时间,比如说2ms),有三种方法: 1.使用定时器中断每隔一定时间进行ADC转换,这样每次都必须读ADC的数据寄存器,非常浪费时间! 2.把ADC设置成连续转换模式,同时对应的DMA通道开启循环模式,这样ADC就一直在进行数据采集然后通过DMA把数据搬运至内存.但是这样做的话还得加一个定时中断,用来定时读取内存中的数据! 3.使用ADC的定时器触发ADC转换的功能,

STM32 F4 ADC DMA Temperature Sensor Goal: detecting temperature variations using a temperature sensor, ADC with DMA and TIM3 as a trigger (ADC sampling frequency = TIM3 trigger frequency). Note: Using TIM3 as a trigger is suited for monitoring temper

一.背景 在STM32中的AD的单通道采样中可以设置成单次转换模式和连续转换模式,如何理解这两个转换模式的区别,通过程序又是怎样实现的? 二.正文 首先理解单次转换模式,即ADC进行单次转换(单样本)的单通道X(参见图1.)并停止转换完成后. 连续转换模式,即ADC在常规信道转换中连续地.无限地转换单信道,如下图所示. 在STM32的ADC库函数中主要由 ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = DISABLE; 来决定AD采集工作在单次转换模式(DISABLE)

STM32的ADC采样时间与其ADC的时钟频率密不可分. 例:STM32F103系列的ADC的时钟是在APB2(最大72MHZ)上.我们可以对其分频: RCC_PCLK2_Div2: ADC clock = PCLK2/2   //72/2=36MHz RCC_PCLK2_Div4: ADC clock = PCLK2/4   //72M/4=18MHz RCC_PCLK2_Div6: ADC clock = PCLK2/6  //72M/6=12MHz RCC_PCLK2_Div8: ADC

文本仅做记录.. 硬件:STM32F103VCT6 开发工具:Keil uVision4 下载调试工具:ARM仿真器 网上资料很多,这里做一个详细的整合.(也不是很详细,但很通俗).  所用的芯片内嵌3个12位的模拟/数字转换器(ADC),每个ADC共用多达16个外部通道,2个内部通道. 3个:代表ADC1.ADC2.ADC3(下图是芯片固件库的截图)    12位:也叫ADC分辨率.采样精度.先来看看二进制的12位可表示0-4095个数,也就是说转换器通过采集转换所得到的最大值是4095,如:

硬件:STM32F103VCT6    开发工具:Keil uVision4    下载调试工具:ARM仿真器网上资料很多,这里做一个详细的整合.(也不是很详细,但很通俗).所用的芯片内嵌3个12位的模拟/数字转换器(ADC),每个ADC共用多达16个外部通道,2个内部通道.3个:代表ADC1.ADC2.ADC3(下图是芯片固件库的截图)这里写图片描述12位:也叫ADC分辨率.采样精度.先来看看二进制的12位可表示0-4095个数,也就是说转换器通过采集转换所得到的最大值是4095,如:"111

1.stm32中采用的是逐次逼近型模拟数字方式,那么什么是逐次逼近呢? 逐次逼近的方式类似于二分法,以8位数据为例:当输入一个模拟量的时候,首先取这8位数的一半,即1000 0000,与模拟量比较,大于输入值,则变为1,小于则比较下一位:将下一位设为1,然后比较,大于则为0,小于则不变,直到两个数字相差不大时停止比较,输出结果. 2.ADC中的对齐方式指的是什么? 由于stm32中的ADC转换结果是12位的,而数据存储寄存器是16位的.左对齐,就是12位的最高位是寄存器的最高位,低四位没有数据:

最常用的方法是使用一个运放做成加法器将负电压抬到0V以上,如果这样的输出超过了最大输出电压那么再使用比例衰减就可以办到了. 参考下面的讨论: http://www.amobbs.com/thread-734181-1-1.html 参考图: http://www.elecfans.com/dianlutu/amp/20101006224158.html 参考文章: http://wenku.baidu.com/view/245e80eb856a561252d36f7e.html

STM32的每个ADC模块通过内部的模拟多路开关,可以切换到不同的输入通道并进行转换.STM32特别地加入了多种成组转换的模式,可以由程序设置好之后,对多个模拟通道自动地进行逐个地采样转换. 有2种划分转换组的方式:规则通道组和注入通道组.通常规则通道组中可以安排最多16个通道,而注入通道组可以安排最多4个通道. 在执行规则通道组扫描转换时,如有例外处理则可启用注入通道组的转换. 一个不太恰当的比喻是:规则通道组的转换好比是程序的正常执行,而注入通道组的转换则好比是程序正常执行之外的一个中断处理

可以这样理解 先配置adc :有几个通道就配置几个通道. 然后配置dma,dma是针对adc的,而不是针对通道的. 一开始我以为一个adc通道对应一个dma通道.(这里是错的,其实是我想复杂了) 一个adc,对应一个dma. adc可以开多个通道.比如采集电池的电量是一个通道,采集单片机温度是另一个通道. adc1的所有通道对应着dma的某一个通道. 然后开启后dma,就会依次把各通道的数据存入数组: 数组元素1: 通道1的数据 数组元素2: 通道2的数据 数组元素3: 通道3的数据 数组元素4

之前完成了规则通道DMA的数据传输了,不过平时在使用ADC的时候可能就会遇到很多情况,不可能就这样简单的按规则通道来采样,DMA存储,使用数据的:可能有时候会需要立刻采样,那样我们就需要利用到注入通道了.文档关于注入通道的解释: 利用外部触发或通过设置ADC_CR2寄存器的ADON位,启动一组规则通道的转换. 如果在规则通道转换期间产生一外部注入触发,当前转换被复位,注入通道序列被以单次扫描方式进行转换. 然后,恢复上次被中断的规则组通道转换.如果在注入转换期间产生一规则事件,注入转换不会被中断

将模拟量转换为数字量的过程称为模式(A/D)转换,完成这一转换的期间成为模数转换器(简称ADC);将数字量转换为模拟量的过程为数模(D/A)转换,完成这一转换的器件称为数模转换器(简称DAC). 模拟信号的采集与处理: 数据采集系统由模拟信号采集.A/D转换.数字信号处理三大部分组成: A/D转换的原理: A/D转换中通常要完成采样保持和量化编码两方面.所以AD转换是需要转换时间的,一般AD转换的时间在uS级别:(量化编码所需要的时间决定采样保存的时间),如下图: 将采样后得到的样点幅值转换为数

最近我们在开发一个项目时,用到了MCU自带的ADC,在调试过程中发现通道之间村在相互干扰的问题.以前其实也用过好几次,但要求都不高所以没有太关注,此次因为物理量的量程较大,所以看到了变化. 首先来说明一下此次的软硬件环境,MCU采用的是STM32F103VET6,ADC采用自带的ADC1,使用通道6和7.在软件方面,我们使用版本为1.4的HAL库,使用DMA方式采集. 接下来,我们描述一下现象.在下边有两幅截图,左边是只给第二路输入为100%时输入显示99.962%.而右边的图是在第一路输入也添