转 STM32内部参照电压VREFIN的使用 https://blog.csdn.net/uncle_guo/article/details/50625660 每个STM32芯片都有一个内部的参照电压,相当于一个标准电压测量点,在芯片内部连接到ADC1的通道17.   根据数据手册中的数据,这个参照电压的典型值是1.20V,最小值是1.16V,最大值是1.24V.这个电压基本不随外部供电电压的变化而变化.   不少人把这个参照电压与ADC的参考电压混淆.ADC的参考电压都是通过Vref+提供的.

神通广大的各位互联网的网友们.大家早上中午晚上好好好.今早起来很准时的收到了两条10086的扣月租的信息.心痛不已.怀着这心情.又开始了STM32的研究.早上做了计算机控制的PID实验,又让我想起了飞思卡尔的电磁小车..曾经的电感电压采集让我心碎的多少次.又让我开心了多少次.但已经成为过去.(软件和硬件都会影响),呵呵.估计有人已经猜到我接下来要介绍什么了.在你们面前.我已无秘密.额.其实标题也直接“表白”了.看到标题,别吓到哈.并不是要用英文写.至于原因是什么.请往下看: 好吧.言归正传:ST

http://blog.csdn.net/varding/article/details/17559399 http://www.51hei.com/stm32/3842.html https://www.amobbs.com/forum.php?_dsign=7ed5b68e&mod=viewthread&tid=4132217 STM32 如何用外部脉冲触发DMA,开始ADC采样? http://blog.csdn.net/gtkknd/article/details/40155287

Stm32的ADC有DMA功能这都毋庸置疑,也是我们用的最多的!然而,如果我们要对一个信号(比如脉搏信号)进行定时采样(也就是隔一段时间,比如说2ms),有三种方法: 1.使用定时器中断每隔一定时间进行ADC转换,这样每次都必须读ADC的数据寄存器,非常浪费时间! 2.把ADC设置成连续转换模式,同时对应的DMA通道开启循环模式,这样ADC就一直在进行数据采集然后通过DMA把数据搬运至内存.但是这样做的话还得加一个定时中断,用来定时读取内存中的数据! 3.使用ADC的定时器触发ADC转换的功能,

STM32 F4 ADC DMA Temperature Sensor Goal: detecting temperature variations using a temperature sensor, ADC with DMA and TIM3 as a trigger (ADC sampling frequency = TIM3 trigger frequency). Note: Using TIM3 as a trigger is suited for monitoring temper

  最近需要用到两个ADC对电压电流进行同步采样,看了一下STM32的ADC介绍,发现STM32最多有3个独立ADC,有在双AD模式下可以进行同步测量,正好满足我的要求.参考官方给的例子在结合自己的需要写了一下配置程序. 程序1 根据官方例子写的: #include"adc.h" __IO uint32_t ADC_DualConvertedValueTab[ADC_BufferLength]; void ADC1_2_Init(void) { ADC_InitTypeDef ADC_

一.背景 在STM32中的AD的单通道采样中可以设置成单次转换模式和连续转换模式,如何理解这两个转换模式的区别,通过程序又是怎样实现的? 二.正文 首先理解单次转换模式,即ADC进行单次转换(单样本)的单通道X(参见图1.)并停止转换完成后. 连续转换模式,即ADC在常规信道转换中连续地.无限地转换单信道,如下图所示. 在STM32的ADC库函数中主要由 ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = DISABLE; 来决定AD采集工作在单次转换模式(DISABLE)

未完,待续...... 也就是stm32f10X系列的adc采集出来的结果是12位的 stm32f10X系列有两个16位adc 关于程序的编写方法:一般  “某某.c文件”:都是用来设置“某某”的一些参数,在初始化函数里:还有就是“某某”的一些动作,比如小灯的亮灭. “某某.h文件”:都是与.c文件配对的,主要是包含“某某.c”文件中的变量名和函数名. 这样一来程序中所有的功能被拆分成块,如:显示用的屏幕部分,输入用的按键部分,采集数据用的传感器部分······ 并把每个部分都变成了成对的.h和

版权声明:本文为博主原创文章,未经博主允许不得转载. https://blog.csdn.net/zouleideboke/article/details/75112224 ADC简介: ADC(Analog-to-Digital Converter,模/ 数转换器).也就是将模拟信号转换为数字信号进行处理,在存储或传输时,模数转换器几乎必不可少. STM32在片上集成的ADC外设非常强大,我使用的奋斗开发板是STM32F103VET6,属于增强型的CPU,它有18个通道,可测量16个外部和2个

STM32的ADC采样时间与其ADC的时钟频率密不可分. 例:STM32F103系列的ADC的时钟是在APB2(最大72MHZ)上.我们可以对其分频: RCC_PCLK2_Div2: ADC clock = PCLK2/2   //72/2=36MHz RCC_PCLK2_Div4: ADC clock = PCLK2/4   //72M/4=18MHz RCC_PCLK2_Div6: ADC clock = PCLK2/6  //72M/6=12MHz RCC_PCLK2_Div8: ADC

文本仅做记录.. 硬件:STM32F103VCT6 开发工具:Keil uVision4 下载调试工具:ARM仿真器 网上资料很多,这里做一个详细的整合.(也不是很详细,但很通俗).  所用的芯片内嵌3个12位的模拟/数字转换器(ADC),每个ADC共用多达16个外部通道,2个内部通道. 3个:代表ADC1.ADC2.ADC3(下图是芯片固件库的截图)    12位:也叫ADC分辨率.采样精度.先来看看二进制的12位可表示0-4095个数,也就是说转换器通过采集转换所得到的最大值是4095,如:

硬件:STM32F103VCT6    开发工具:Keil uVision4    下载调试工具:ARM仿真器网上资料很多,这里做一个详细的整合.(也不是很详细,但很通俗).所用的芯片内嵌3个12位的模拟/数字转换器(ADC),每个ADC共用多达16个外部通道,2个内部通道.3个:代表ADC1.ADC2.ADC3(下图是芯片固件库的截图)这里写图片描述12位:也叫ADC分辨率.采样精度.先来看看二进制的12位可表示0-4095个数,也就是说转换器通过采集转换所得到的最大值是4095,如:"111

1.stm32中采用的是逐次逼近型模拟数字方式,那么什么是逐次逼近呢? 逐次逼近的方式类似于二分法,以8位数据为例:当输入一个模拟量的时候,首先取这8位数的一半,即1000 0000,与模拟量比较,大于输入值,则变为1,小于则比较下一位:将下一位设为1,然后比较,大于则为0,小于则不变,直到两个数字相差不大时停止比较,输出结果. 2.ADC中的对齐方式指的是什么? 由于stm32中的ADC转换结果是12位的,而数据存储寄存器是16位的.左对齐,就是12位的最高位是寄存器的最高位,低四位没有数据:

STM32的每个ADC模块通过内部的模拟多路开关,可以切换到不同的输入通道并进行转换.STM32特别地加入了多种成组转换的模式,可以由程序设置好之后,对多个模拟通道自动地进行逐个地采样转换. 有2种划分转换组的方式:规则通道组和注入通道组.通常规则通道组中可以安排最多16个通道,而注入通道组可以安排最多4个通道. 在执行规则通道组扫描转换时,如有例外处理则可启用注入通道组的转换. 一个不太恰当的比喻是:规则通道组的转换好比是程序的正常执行,而注入通道组的转换则好比是程序正常执行之外的一个中断处理

之前完成了规则通道DMA的数据传输了,不过平时在使用ADC的时候可能就会遇到很多情况,不可能就这样简单的按规则通道来采样,DMA存储,使用数据的:可能有时候会需要立刻采样,那样我们就需要利用到注入通道了.文档关于注入通道的解释: 利用外部触发或通过设置ADC_CR2寄存器的ADON位,启动一组规则通道的转换. 如果在规则通道转换期间产生一外部注入触发,当前转换被复位,注入通道序列被以单次扫描方式进行转换. 然后,恢复上次被中断的规则组通道转换.如果在注入转换期间产生一规则事件,注入转换不会被中断

将模拟量转换为数字量的过程称为模式(A/D)转换,完成这一转换的期间成为模数转换器(简称ADC);将数字量转换为模拟量的过程为数模(D/A)转换,完成这一转换的器件称为数模转换器(简称DAC). 模拟信号的采集与处理: 数据采集系统由模拟信号采集.A/D转换.数字信号处理三大部分组成: A/D转换的原理: A/D转换中通常要完成采样保持和量化编码两方面.所以AD转换是需要转换时间的,一般AD转换的时间在uS级别:(量化编码所需要的时间决定采样保存的时间),如下图: 将采样后得到的样点幅值转换为数

最近我们在开发一个项目时,用到了MCU自带的ADC,在调试过程中发现通道之间村在相互干扰的问题.以前其实也用过好几次,但要求都不高所以没有太关注,此次因为物理量的量程较大,所以看到了变化. 首先来说明一下此次的软硬件环境,MCU采用的是STM32F103VET6,ADC采用自带的ADC1,使用通道6和7.在软件方面,我们使用版本为1.4的HAL库,使用DMA方式采集. 接下来,我们描述一下现象.在下边有两幅截图,左边是只给第二路输入为100%时输入显示99.962%.而右边的图是在第一路输入也添

1.精度稳定低一点参考电压VREF稳定: 2.通过设置不同的ADC时钟 和 采样周期 来确定出最适合自己系统的参数: 3.测试思路: 在同样SMPx下,设定不同的时钟得到不同采样时间值: 在同样时钟下,更换SMPx(采样周期值)得到不同采样时间值: 比如:设定56MHZ的时钟不分频,一次1US,SMPRx设定值为001(7.5个周期),最终转换时间就是: 1us * (7.5 + 12.5) = 20us

可以这样理解 先配置adc :有几个通道就配置几个通道. 然后配置dma,dma是针对adc的,而不是针对通道的. 一开始我以为一个adc通道对应一个dma通道.(这里是错的,其实是我想复杂了) 一个adc,对应一个dma. adc可以开多个通道.比如采集电池的电量是一个通道,采集单片机温度是另一个通道. adc1的所有通道对应着dma的某一个通道. 然后开启后dma,就会依次把各通道的数据存入数组: 数组元素1: 通道1的数据 数组元素2: 通道2的数据 数组元素3: 通道3的数据 数组元素4